詳細摘要: 高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍
產品型號:FPEH-MX10所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言
孚光精儀(中國)有限公司
詳細摘要: 高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍
產品型號:FPEH-MX10所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言詳細摘要: 晶圓電阻率測試儀采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的SheetResistance測量
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