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    孚光精儀(中國)有限公司


    經營模式:經銷商

    商鋪產品:1482條

    所在地區:

    聯系人:陳小姐 (銷售)

    • 高分辨率晶圓厚度測試儀

      詳細摘要: 高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍

      產品型號:FPEH-MX10所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 晶圓翹曲度厚度測試儀

      詳細摘要: 晶圓翹曲度厚度測試儀是專業為晶圓翹曲度測量和晶圓厚度測量設計的晶圓厚度翹曲度測量儀器

      產品型號:FPEH-MX20所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 單點硅片測厚儀

      詳細摘要: 單點硅片測厚儀是采用單點測厚技術為硅晶圓厚度測量設計的硅晶圓測厚儀器

      產品型號:FPEH0-MX30所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 晶圓電阻率測試儀

      詳細摘要: 晶圓電阻率測試儀采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的SheetResistance測量

      產品型號:FPEH-MX60所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 單晶多晶硅片壽命測試儀

      詳細摘要: 單晶多晶硅片壽命測試儀是專用為晶圓品質檢驗,測量少子壽命,測量光電導率和電阻率等研發的晶圓壽命測試儀器

      產品型號:FPFRE-MDPMap所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 單點少子壽命測量儀

      詳細摘要: 單點少子壽命測量儀系統是經濟型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學參數進行表征

      產品型號:FPFRE-MDPspot所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 微波探測光致電流瞬態譜儀

      詳細摘要: 微波探測光致電流瞬態譜儀采用微波技術探測材料的光生電流瞬態光譜值,非常適合溫度依賴的少子壽命測量和半導體界面陷阱

      產品型號:FPFRE-MDpicts所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 晶圓晶錠壽命測定儀

      詳細摘要: 晶圓晶錠壽命測定儀是為晶圓晶錠測量少子壽命、光電導率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務設計的晶圓晶錠少子壽命測試儀器

      產品型號:FPFRE-mdppro所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 多功能翹曲度測定儀

      詳細摘要: 多功能翹曲度測定儀是一款多參數翹曲度測試儀器,可以測量PCB,IC等翹曲度,應變等參數,更可以檢測隨溫度變化的翹曲度值

      產品型號:FPTDM-compact3所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 四探針電阻率電導率計

      詳細摘要: 這款四探針電阻率電導率計可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheetresistance電阻率和電導率,適合多種材料和樣品測量

      產品型號:FPOSS-FOURPOINT所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 微探針系統

      詳細摘要: 這款微探針系統microprobe是為材料光學特性和電特性測試設計的納米級微納探針儀器,可以結合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環境條件下現場測試材料電學和光學特性,...

      產品型號:FPNEX-MICRO所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 納米操縱系統

      詳細摘要: 納米操縱系統采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用

      產品型號:FPIMI-NANO所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 微探針臺系統

      詳細摘要: 微探針臺系統microprobesystem可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺系統,實現微操作和微測量功能

      產品型號:FPIMI-Micro所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 半自動探針臺

      詳細摘要: 這款半自動探針臺廣泛用作電動分析探針臺和半自動晶圓探針臺,可測試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺平臺制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...

      產品型號:FPMIC-SPS-2800所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 激光切割分析探針臺

      詳細摘要: 激光切割分析探針臺集成分析探針臺和半導體激光修調trimming系統,適合半導體分析切割,失效分析,半導體修調trimming,結構層移除,標記等諸多應用

      產品型號:FPMIC-lcs-4000所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 閉循環低溫真空探針臺

      詳細摘要: 這款閉循環低溫真空探針臺是半自動低溫真空探針臺,可在低溫單CCR系統9K,雙CCR系統4.5K和三CCR系統低于4K溫度下測試經驗和器件

      產品型號:FPMIC-CPS-XXX-CF-PLUS所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 高溫探針臺

      詳細摘要: 這款高溫探針臺是為高溫環境器件測試或真空環境或氣體環境器件探針臺分析測試而設計

      產品型號:FPMIC-CPS-HT所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 磁探針臺

      詳細摘要: 這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應用.作為磁場探針臺實現了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.磁探針臺特點提供使用磁場的任意三...

      產品型號:FPMIC-MPS-350所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 半自動真空探針臺

      詳細摘要: 這款半自動真空探針臺SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統,設計用于支持在真空或受控氣體環境中對多達100mm...

      產品型號:FPMIC-SPS-2600所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

    • 無氦低溫探針臺

      詳細摘要: 無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設計的閉循環低溫探針臺系統,適合低溫下對器件和電路進行探針測試

      產品型號:FPMIC-CPS-CF所在地:更新時間:2021-08-16 在線留言

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