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磁探針臺

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產品型號FPMIC-MPS-350

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更新時間：2021-08-16 14:14:16瀏覽次數：67次

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孚光精儀（中國）有限公司

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產品簡介

這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應用.作為磁場探針臺實現了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.磁探針臺特點提供使用磁場的任意三維方向的探針臺，適合用于自旋電子學研究應用提供在除了垂直磁場方向上的晶圓探測，適合在生產中的自旋電子學設備測試

詳細介紹

這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應用.作為磁場探針臺實現了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
磁探針臺特點
提供使用磁場的任意三維方向的探針臺，適合用于自旋電子學研究應用
提供在除了垂直磁場方向上的晶圓探測，適合在生產中的自旋電子學設備測試。
*可定制的基于LABView的控制軟件可易與的測試和測量設備結合使用
用于微米水平探針定位的有效的具有80TPI螺桿的高分辨率微位置
具有大范圍的輸出格式和可用設置的數據收集和/或分析
系統配有3個霍爾探頭和資料解析以提高的磁場穩定性和精度

磁探針臺規格參數
適合晶圓尺寸：100mm, 150mm, 200mm
磁場方向：任意3D
磁場：0.6T
磁場方向精度：+/-0.1度
磁場不均勻性：+/-2% @10mm直徑區域
磁場穩定性：0.1%
晶圓XY定位分辨率：3um
Z軸行程： 12.5mm

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