詳細摘要： 這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
產品型號：FPANG-SRM300所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言孚光精儀（中國）有限公司
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詳細摘要： 這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
產品型號：FPANG-SRM300所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款光學薄膜測厚儀采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數，非常適合日常已知膜系膜堆測量
產品型號：FRANG-SR100所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試
產品型號：FPASP-TSM-01所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款薄膜溶解測厚儀用于實時監測薄膜在液體中薄膜厚度變化和光學常量（n,k)變化，的薄膜溶解測量儀和薄膜溶解測試儀
產品型號：FPTHE-FR-liquid所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款便攜式薄膜測厚儀便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等
產品型號：FPTHE-FR-pOrtable所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款聚合物薄膜測厚儀用于測量polymerfilms(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和photoresistfilms（光致抗蝕劑薄膜,光刻膠膜,光刻薄膜,...
產品型號：FPTHE-FR-Thermal所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款晶圓自動四探針電阻率計是四點探針型的半導體晶圓和電阻薄膜的電阻率特性測量儀器，它采用微處理器電路直接計算出V/I數值，表面電阻率,薄片電阻率,晶片電阻率,金...
產品型號：FPMIL-FPP-5000所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等
產品型號：FPZEB-P-1E所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
產品型號：FPZEB-P-1D所在地：更新時間：2021-08-19 在線留言
詳細摘要： 這款磁場消除系統專業為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設計的消磁儀器和磁場補償系統,有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實驗,磁共振成像...
產品型號：FPSTEF-MR-3所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 這款磁場屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應用的單軸磁場消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當磁場傳感器不能放置在屏蔽空間內的應用
產品型號：FPSTEF-MK-1所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 這款三維臺階儀是德國進口的高精度光學臺階儀器,也是一款光學表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標...
產品型號：FPTTZ-STEP-profiler所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 納米干涉形貌儀nanoprofilometer是采用微納干涉顯微鏡部分相干光的干涉技術制造的納米輪廓儀和納米形貌儀,可定量測量微米尺度和納米尺度表面形貌輪廓,并...
產品型號：FPOST-IMOS所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 近場掃描光學顯微鏡NSOM采用SNOM技術幫助用戶獲得的光學空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計數模式的熒光和光學圖像
產品型號：FPDEL-nsom所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 范德瓦爾斯轉移臺VANDERWAALS是為半導體芯片不同材料在精確位置的堆積過程研究設計的范德瓦爾斯位移臺
產品型號：FPCRE-van-der所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 一.4英寸手動探針臺BU-4這款手動探針臺BU-4提供4樣品真空卡盤和4x4滾珠軸承螺桿位移臺,帶有精確theta角控制,磁性不銹鋼頂部壓板平臺帶有升降功能
產品型號：FPCRE-BU所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 這款主動磁場屏蔽消磁系統是專業為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場干擾而設計的主動磁場屏蔽和主動消磁裝置系統.用于為科學儀器裝置免受磁場干擾影響的環境.主動磁場屏蔽消磁系...
產品型號：FPMD-ECS所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 量子效率測量系統是為晶體硅太陽能電池IQE內量子效率測量分析設計的內外量子效率測試測量系統,也可以測量EQE外量子效率和光譜反射
產品型號：FPPVT-IQE-SCAN所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： C-V/I-V特性測試儀是為半導體C-V特性分析測試和I-V特性測試分析設計的C-V/I-V測試系統
產品型號：FPMDC-C-V所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言
詳細摘要： 這款低溫探針臺系統提供近液氮溫度77K情況下電子安靜的高靈敏度電容和電流測量功能，它采用電子防護罩確保電子安靜且控制環境操作
產品型號：FPMDC-411所在地：更新時間：2021-08-17 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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