孚光精儀（中國）有限公司
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<ul id="qqie6"></ul> 孚光精儀（中國）有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號FRANG-SR100
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地
聯(lián)系方式：陳小姐查看聯(lián)系方式
更新時間：2021-08-19 12:24:56瀏覽次數(shù)：100次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計技術(shù)測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計技術(shù)測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
這款光學(xué)薄膜測厚儀具有較長工作距離，工作距離可調(diào)，超大樣品臺，可選光源等特點。
光學(xué)模板測厚儀特點
易于安裝
軟件基于Windows系統(tǒng)，方便使用
*光學(xué)設(shè)計，良好系統(tǒng)表現(xiàn)
陣列光譜探測器保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率高達5層
可測量反射，透射和吸收光譜
可用于實時在線的薄膜厚度和折射率測量
具有齊全的材料光譜舍數(shù)據(jù)庫
可升級到顯微分光光度計
適合不同襯底和不同薄膜厚度測量
光學(xué)薄膜測厚儀參數(shù)
波長范圍：250-1100nm
光點大小：500um - 5mm
樣品大小：200x200mm 或200mm 直徑
襯底厚度： 高達50um
測量薄膜厚度范圍： 2nm -50um
測量時間：最小2ms
精度：0.5%
重復(fù)精度：<1A
光學(xué)薄膜測厚儀應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
液晶顯示屏測量
刑偵
生物膜測量
礦石地質(zhì)分析
制藥醫(yī)學(xué)分析
光學(xué)鍍膜測量
功能薄膜MEMS測量
太陽能電池薄膜測量
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