詳細摘要： 太陽能電池i-v測試系統(tǒng)是專業(yè)為光伏器件特性測量設計的太陽能電池i-v測量系統(tǒng)
產品型號：FPOSS-I-V所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言孚光精儀（中國）有限公司
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詳細摘要： 太陽能電池i-v測試系統(tǒng)是專業(yè)為光伏器件特性測量設計的太陽能電池i-v測量系統(tǒng)
產品型號：FPOSS-I-V所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這款低溫UHV掃描探針顯微鏡是超高真空室內應用設計的高真空低溫SPM掃描探針顯微鏡
產品型號：FPUNI-usm1200所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 超低溫磁場掃描隧道顯微鏡是超低溫高磁場表面物理研究設計的STM掃描隧道顯微鏡
產品型號：FPUNI-usm1300所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這高真空極低溫掃描探針顯微鏡是超高真空室內應用設計的高真空極低溫SPM掃描探針顯微鏡，可搭建成近場掃描顯微鏡和拉曼顯微鏡
產品型號：FPUNI-usm1400所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內應用設計的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產品可用于納米技術
產品型號：FPUNI-USM1400-4P所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 低溫高真空針尖增強拉曼光譜系種低溫單分子成像方法,在低溫高真空條件下，可實現亞納米級拉曼光譜成像，提高信噪比和靈敏度
產品型號：FPUNI-USM1400-TERS所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 超高真空極低溫強磁場掃描隧道顯微鏡是高性能掃描隧道顯微鏡應用于前沿表面科學研究的理想工具,實現了的基溫和強磁場
產品型號：FPUNI-USM1600所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這套聚焦離子束蝕刻系統(tǒng)是一種超高真空UHV條件多功能FIB系統(tǒng),既可以配置為掃描電子顯微鏡SEM,也可以配置為結合SEM和高性能聚焦離子束FIB的雙束平臺
產品型號：FPORS-FIB所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這款大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖
產品型號：FPKPT-SKP5050所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 環(huán)境壓力光電子發(fā)射光譜儀系統(tǒng)是為大氣環(huán)境下光電子能譜測量設計的光電子能譜儀器,PhotoemissionSpectroscopy，通過空氣中的光電發(fā)射測量材料的...
產品型號：FPKEL-APS所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量
產品型號：FPKPT-kp020所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 表面光電壓譜儀是專業(yè)為研究光敏材料（如有機半導體、太陽能電池或光敏染料）設計的表面光電壓儀器,SurfacePhotovoltage.表面光電壓譜儀模塊提供了一...
產品型號：FPKPT-SPV020所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量
產品型號：FPKPT-UHVKP020所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 硅錠壽命測量儀是精確的非接觸式測量本體壽命的儀器,適合任意生長硅錠表面任意曲率半徑硅錠測量壽命
產品型號：FPSIN-BCT-400所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這款晶圓少子壽命測量儀是專業(yè)為晶圓少數載流子復合壽命測量設計的少子壽命測試儀器
產品型號：FPSIN-WCT-120所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 這款溫度型少子壽命測試儀是為25℃~200℃范圍內晶圓少數載流子復合壽命測量設計的溫度決定型少子壽命測定儀器
產品型號：FPSIN-WCT-120TS所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 太陽能電池I-V測試儀能夠高精度高效率地測量太陽能I-V曲線和Suns-Voc數據，可高精度測量傳統(tǒng)太陽能電池和背接觸太陽能電池
產品型號：FPSIN-FCT-450所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： Suns-Voc后擴散測試儀是Suns-Voc后擴散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結優(yōu)化和過程控制
產品型號：FPSIN-Suns-Voc所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言
詳細摘要： 高分辨率晶圓厚度測試儀能夠高精度測量硅晶圓厚度和硅晶圓厚度變化,分辨率高達10nm,可滿足不同的晶圓厚度范圍
產品型號：FPEH-MX10所在地：更新時間：2021-08-16 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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