電子顯微鏡

摘要 簡(jiǎn)要描述：集優(yōu)異性能、操作簡(jiǎn)便性、多樣化功能于一身；日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可高效發(fā)揮其高性能。SU3900標(biāo)配多功能超大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀(guān)察。

摘要 該儀器具有較長(zhǎng)的工作距離，寬闊的視野，高清晰度的成像質(zhì)量；設(shè)計(jì)有0.35X，0.5X，1X系列攝影目鏡和0.5X，2X系列輔助物鏡，根據(jù)用戶(hù)不同場(chǎng)合的使用要求（需另配）；專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)配套的LED照明裝置，適用于各種行業(yè)的使用需求。

摘要 掃描電子顯微鏡SEM3000S

摘要 掃描電子顯微鏡SEM3000

摘要型號(hào)：AO-HC200B總放大倍數(shù)：10X~220X連續(xù)變倍輸出模式：HDMI高清輸出：HDMI高清輸出功能：拍照、錄像、十字線(xiàn)、HDR寬動(dòng)態(tài) 操作方式：按鍵操作幀率：60FPS輸出接口：HDMI接屏照明方式：LED亮度可調(diào)，使用壽命長(zhǎng)使用領(lǐng)域：電子工廠(chǎng)、PCB、科研...

摘要 CT-NANO是一款功能全面的掃描電子顯微鏡，可對(duì)輕金屬合金和纖維復(fù)合材料等樣品進(jìn)行納米CT測(cè)量

摘要 日本電子JSM-7500F 冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要 日立 S-3700N掃描電子顯微鏡

摘要 日立 SU3500掃描電子顯微鏡

摘要 蔡司 EVO 系列模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀(guān)操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用

摘要 德國(guó)蔡司Sigma 系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要 Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要 高清高速電子顯微鏡

摘要EVO掃描電子顯微鏡 蔡司EVO系列實(shí)現(xiàn)了高清掃描電子顯微術(shù)與直觀(guān)人性化體驗(yàn)?zāi)Ｊ降娜诤夏梢园l(fā)現(xiàn)采用SmartSEM觸摸式用戶(hù)界面不僅使工作效率獲得實(shí)質(zhì)性改善，而且大大縮減了培訓(xùn)成本。在視覺(jué)檢查工作流程中，其不僅為所有用戶(hù)生成優(yōu)質(zhì)圖像，并且擁有超...

摘要憑借過(guò)去 60 年的技術(shù)創(chuàng)新歷史和業(yè)內(nèi)， FEI 成為了透射電子顯微鏡 (TEM)、 掃描電子顯微鏡 (SEM)、整合了 SEM 與聚焦離子束 (FIB) 的 DualBeam™ 儀器和 用于精密高速切割與加工的專(zhuān)用聚焦離子束儀器的性能標(biāo)準(zhǔn)。 FEI 成像...

摘要 Sigma系列產(chǎn)品 用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

摘要 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus系列"Regulus系列"繼承了現(xiàn)有機(jī)型的觀(guān)察和分析性能，配備SU8200系列的低噪音冷場(chǎng)發(fā)射電子槍*1，可以獲得高穩(wěn)定的束流

摘要 集優(yōu)異性能、操作簡(jiǎn)便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性

摘要 超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需*大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀(guān)察的*半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)

摘要 *的SEM更為緊湊寬幅僅為45cm的緊湊型的設(shè)計(jì)，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 HIROXSH-3000桌上型掃描電子顯微鏡簡(jiǎn)介Hirox的SH-3000桌上型掃描電鏡又稱(chēng)為iSEM/MINI-SEM/DesktopSEM/TabletopSEM/臺(tái)式電子顯微鏡或臺(tái)式掃描電鏡)

摘要 Hirox桌上型掃描電子顯微鏡簡(jiǎn)介Hirox的SH-3500MB與SH-4000M/SH-5000M桌上型掃描電鏡系列，又稱(chēng)為iSEM/MINI-SEM/DesktopSEM/TabletopSEM/臺(tái)式電子顯微鏡或臺(tái)式掃描電鏡

摘要 TM4000/TM4000Plus電子顯微鏡（臺(tái)式）介紹畫(huà)質(zhì)更加清晰，操作更加便捷，觀(guān)看更加直觀(guān)

摘要 MZ11單筒連續(xù)變倍顯微鏡，具有工作距離長(zhǎng)，成像清晰而平穩(wěn)，操作方便等特點(diǎn)。 適用于半導(dǎo)體、芯片、FPC、電路板、金屬材料等領(lǐng)域的電子產(chǎn)品 工業(yè)生產(chǎn)線(xiàn)、印刷線(xiàn)路板的檢驗(yàn)等。

摘要 一、掃描電子顯微鏡SEM3000S產(chǎn)品概述：掃描電子顯微鏡SEM3000S是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡

摘要 一、掃描電子顯微鏡SEM3000產(chǎn)品概述：掃描電子顯微鏡SEM3000是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡

摘要 200kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過(guò)單極片實(shí)現(xiàn)0.078nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX

摘要 專(zhuān)用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國(guó)CEOSGmbH公司(總經(jīng)理MaxHaider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級(jí)納米技術(shù)研究

摘要 "RuliTEM"120kV透射電子顯微鏡系列

摘要 現(xiàn)有機(jī)型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100

摘要 電子顯微鏡（顯示器）主要為滿(mǎn)足現(xiàn)代數(shù)碼、電子產(chǎn)品、電子設(shè)備、半導(dǎo)體、LED、LCD等各種產(chǎn)品生產(chǎn)時(shí)的在線(xiàn)檢測(cè)、成像觀(guān)察、檢驗(yàn)、測(cè)量

摘要 電子顯微鏡適用于電子工業(yè)生產(chǎn)線(xiàn)的檢驗(yàn)、印刷線(xiàn)路板的檢定、印刷電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷(印刷錯(cuò)位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定,具有長(zhǎng)工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡,操作方便、直觀(guān)、QC檢定效率高

摘要美國(guó)FEI掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)：1.FEI ESEM（環(huán)境掃描電鏡）技術(shù),可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對(duì)各種樣品進(jìn)行觀(guān)察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀(guān)察和微觀(guān)分析。3.*的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺(tái)，全數(shù)字化系統(tǒng)。4.可同時(shí)安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系...

摘要 掃描電鏡在電氣、電子、汽車(chē)，機(jī)械，化學(xué)和制藥工業(yè)等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用

摘要 Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)，并且不會(huì)降低磁性樣品性能。

摘要 Talos™ 是新一代 TEM 產(chǎn)品，致力于讓用戶(hù)迅速訪(fǎng)問(wèn)二維和三維數(shù)據(jù)，從而專(zhuān)注于研究發(fā)現(xiàn)。Talos 的配置適合開(kāi)展材料研究和生命科學(xué)研究，是一款融合了眾多創(chuàng)新技術(shù)的多功能系統(tǒng)，能夠在未來(lái)數(shù)年里滿(mǎn)足您的研究需求。

摘要自 2005 年推出以來(lái)，Titan 便憑借優(yōu)異的產(chǎn)品設(shè)計(jì)以及其被證明能夠帶來(lái)突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。FEI 的 Titan S/TEM 平臺(tái)一直在發(fā)展演變，現(xiàn)如今，Titan TEM 系列涵蓋 Titan&t...

摘要 專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀(guān)察的*半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)

摘要 “*的SEM更為緊湊”寬幅僅為45cm的緊湊型的設(shè)計(jì)，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 高畫(huà)質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡,圖象質(zhì)量更進(jìn)一步

摘要 特點(diǎn)：實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡

摘要 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿(mǎn)足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀(guān)設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗(yàn)

摘要 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC(CRYOARM™300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過(guò)濾器(Ω能量過(guò)濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀(guān)察生物大分子

摘要 專(zhuān)用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國(guó)CEOSGmbH公司（總經(jīng)理MaxHaider先生）共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級(jí)納米技術(shù)研究

摘要 TheTalosL120CTEM的平臺(tái)式設(shè)計(jì)具備了模塊多功能化，的穩(wěn)定性及操作的便捷性，從而提供可靠的成像性能