電子顯微鏡

摘要捷歐路JEOL JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡的光學系統(tǒng)經(jīng)過改進，實現(xiàn)了分辨率（15kV 0.8nm、1kV 1.0nm）的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，能提供...

摘要捷歐路JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡新機型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。 捷歐路JEOL JSM-IT500HR ...

摘要捷歐路JEOL JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能極大地簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。 捷歐路JEOL JSM-7900F ...

摘要 用于材料和生命科學的掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡（SEM）能夠提供高分辨率的表面信息及出色的材料對比度

摘要 日立TM4000掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。TM4000優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。

摘要 日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能

摘要 主要特點：1、搭載了色差極小的適合低加速電壓高分辨率觀察的冷場電子槍2、跟前代機型相比分辨率大約提高了20%（Regulus8220/8230/8240：0.9nm/1kV

摘要 生產(chǎn)廠商：德國卡爾蔡司公司技術指標：Sigma500是熱場發(fā)射的掃描電鏡

摘要 JSM-IT100鎢燈絲掃描電鏡，是日本電子株式會社在2015年9月推出的新型號數(shù)字化掃描電鏡

摘要 蔡司Crossbeam系列專為高通量樣品制備和3D分析而設計的FIB-SEM輕松發(fā)現(xiàn)和設計*材料蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能

摘要 GeminiSEM系列高分辨，不挑樣長久以來，蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞

摘要 蔡司EVO系列模塊化的SEM平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起，同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶

摘要 用于高品質成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 JSM-IT800 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。

摘要 產(chǎn)品名稱：電子顯微鏡產(chǎn)品型號：AM211產(chǎn)品產(chǎn)地：中國臺灣電子顯微鏡型號：AM211電子顯微鏡應用范圍：可以被廣泛地使用,教室、工作單位、家里

摘要 JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡 JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

摘要JEM-ARM200F NEOARM 原子級透射電子顯微鏡 “NEOARM” 標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析...

摘要 JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

摘要 JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

摘要JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設計的Ω能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物...

摘要 JEM-Z300FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。

摘要 日本JEOL 場發(fā)射透射電子顯微鏡JEM-3200FS JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。

摘要 日本電子JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的大優(yōu)點。

摘要 Hitachi日立電子顯微鏡SEMS-2600N，于2003年投入使用，用于晶圓檢測

摘要 產(chǎn)品介紹： 百倍超快多束自動電子顯微鏡， 下一代電子顯微成像系統(tǒng)

摘要 產(chǎn)品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面，模塊化布局

摘要 產(chǎn)品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面，模塊化布局

摘要 產(chǎn)品介紹INTRODUCTION軟件功能介紹KYKY-SEM電鏡操作軟件純中文操作界面，模塊化布局

摘要 Hirox浩視SH-1500桌上型掃描電子顯微鏡特點簡介：超越光學極限的高倍率非導電性樣品無須涂層、快速簡便影像鮮明的掃描電鏡■15,000X—30,000X■極富立體感的畫面■任何人都能使用的自動調整功能■交替樣品后兩分鐘即可獲得滿意的影像■體積小巧

摘要 賽可普通型電子顯微鏡分辨率 15nm，大放大6萬倍。支持二次電子和背散射電子雙重圖像，適用于研究開發(fā)，品質管理以及教育實習等的目的.

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 Quattro 掃描電子顯微鏡

摘要 Talos 透射電子顯微鏡

摘要 Helios NanoLab雙束電子顯微鏡

摘要 Scios 雙束電子顯微鏡

摘要 Prisma EX 掃描電子顯微鏡

摘要 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 EVO 18

摘要 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 EVO MA 10/LS 10

摘要 掃描電子顯微鏡是通常被用來觀察樣品表面微觀形貌的常見儀器，經(jīng)長期市場觀察與統(tǒng)計發(fā)現(xiàn)，利用掃描電子顯微鏡觀察與拍攝樣品時，放大倍率在八千至一萬倍以下的平均使用率達到了80－90%，臺式掃描電子顯微鏡正是因應這一市場實際需求而出現(xiàn)的。

摘要 從生物技術到納米技術、高分子和高新材料，H-Y系列透射電子顯微鏡被廣泛應用在多個領域，而且用途越來越廣。

摘要 H-X系列掃描電子顯微鏡涵蓋以生物技術和納米技術為首的包括材料開發(fā)、測試、評估和缺陷分析及質量控制等廣泛領域；適用于材料科學、化學化工、生命科學以及相關領域的研究工作，對各種材料、化工產(chǎn)品、生物制品、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進行觀測分析試驗。