開爾文探針系統(tǒng)

摘要 開爾文探針系統(tǒng)KelvinProbe可用于光電化學(xué)中,精確測量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高

摘要 開爾文探針系統(tǒng)KelvinProbe可用于光電化學(xué)中,精確測量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高

摘要 大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動(dòng)開爾文探針實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制開爾文探針與樣品的距離

摘要 這款大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數(shù)圖

摘要 我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測量

摘要 超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量

摘要 一、產(chǎn)品介紹SKP5050系統(tǒng)是一款可以被大多數(shù)客戶所接收的掃描開爾文探針系統(tǒng)，它是在SKP基礎(chǔ)之上包括了彩色相機(jī)/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數(shù)字示波鏡等配置。二、產(chǎn)品參數(shù)

摘要 大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動(dòng)開爾文探針實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制開爾文探針與樣品的距離

摘要 這款大范圍掃描開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數(shù)圖

摘要 我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測量

摘要 超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量

摘要產(chǎn)品描述：單點(diǎn)開爾文探針 ...

摘要產(chǎn)品描述：氣氛控制開爾文探針 ...

摘要產(chǎn)品描述：超高真空開爾文探針 ...

摘要產(chǎn)品描述：掃描開爾文探針 ...

摘要 美國APT四線法開爾文探針夾具APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對(duì)測試的影響，提供小電阻的測試準(zhǔn)確性。另外，一些高頻測試，比如150M左右，也可以采用這個(gè)。Currentleakage:150MHz