這款大范圍掃描開爾文探針系統幫助用戶可以訪問從50mm到350mm的樣品的二維和三維功函數圖。掃描開爾文探針的功函數分辨率為1-3meV，探針直徑的空間分辨率為0.05mm，可對功函數、接觸電位差和伏特電位進行可靠、可重復的測量。
大范圍掃描開爾文探針系統可以選配高性能的光學/法拉第外殼屏蔽外殼，使其免受不必要的快速變化的環境條件、電磁干擾，并為我們的環境壓力光電發射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺。
大范圍掃描開爾文探針系統特色
用開爾文探針測量功函數
1-3mev的功函數分辨率
掃描范圍從50毫米到300毫米
掃描分辨率等于針尖直徑
自動高度調節
大范圍掃描開爾文探針系統應用
防腐，碳鋼，薄膜，太陽能電池，氧化鉬，氧化鋅納米線薄膜，量子點，空穴傳輸，納米顆粒，石墨烯，有機發光二極管。
大范圍掃描開爾文探針掃描結果
大范圍掃描開爾文探針系統可以選配高性能的光學/法拉第外殼屏蔽外殼，使其免受不必要的快速變化的環境條件、電磁干擾，并為我們的環境壓力光電發射光譜和表面光電壓附加模塊提供了的平臺。
大范圍掃描開爾文探針系統特色
用開爾文探針測量功函數
1-3mev的功函數分辨率
掃描范圍從50毫米到300毫米
掃描分辨率等于針尖直徑
自動高度調節
大范圍掃描開爾文探針系統應用
防腐，碳鋼，薄膜，太陽能電池，氧化鉬，氧化鋅納米線薄膜，量子點，空穴傳輸，納米顆粒，石墨烯，有機發光二極管。
大范圍掃描開爾文探針掃描結果
| 型號 | SKP5050 | ASKP100100 | ASKP200250 | ASKP350350 |
| Tip material / diameter | Standard 2 mm gold tip (0.05 mm available on request) | |||
| Work function resolution | 1 - 3 meV | |||
| Sample scan size | 50 x 50 mm | 100 x 100 mm | 200 x 250 mm | 350 x 350 mm |
| 3D sample area | Square | Square | Square | Square and circular |
| Height control (auto) | 25 mm | 50 mm | 50 mm | 50 mm |
| Visualisation | 3D map of surface potential | |||
| Optical system | Colour camera with zoom lens and monitor | |||
| Oscilloscope | Digital TFT oscilloscope for real time signal | |||
| Test sample | Gold and aluminium test sample | |||
| Faraday enclosure base | 450 x 450 mm | 300 x 300 mm | 450 x 450 mm | 450 x 600 mm |
| Control supplied | PC control with dedicated software for full control of all parameters | |||
| Detection system | Off-null with parasitic capacity rejection | |||
| Warranty | Twelve months | |||
