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CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺測試系統
◆ 可用于12英寸以內樣品測試 可選附件：加熱臺 顯示器 轉接頭 射頻測試配件 屏蔽箱 光學平臺 鍍金卡盤 光電測試配件 高壓測試配件 顯微鏡快速傾仰裝置 激光系統 探針卡夾具 規格及設計如有更改，恕不另行通知。
◆ 同軸絲杠傳動結構，線性移動
◆ 大手柄驅動，操作舒適，無回程差設計
◆ 針座平臺快速、微調升降功能
◆ 可搭配多種類型顯微鏡
◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
◆ 結構模塊化設計，可無縫升級
◆ 探針臺可根據客戶要求定制。 
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