詳細摘要： 激光反射式技術適合小口徑可見光及紅外光學元件和系統的裝調和檢測可見光和紅外公用寬波段物鏡，無需更換鏡頭
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詳細摘要： 激光反射式技術適合小口徑可見光及紅外光學元件和系統的裝調和檢測可見光和紅外公用寬波段物鏡，無需更換鏡頭
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詳細摘要： 激光反射式技術適合中等尺寸可見光元件和系統的裝調和檢測，可增加短波紅外、中波紅外、長波紅外光學模塊，以適合相應波段的系統裝調、裝配。可見光和紅外共用寬波段鏡頭，...
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詳細摘要： 激光反射式技術適合大尺寸可見光元件和系統的裝調和檢測，可增加短波紅外、中波紅外、長波紅外光學模塊，以適合相應波段的系統裝調、裝配。可見光和紅外共用寬波段鏡頭，裝...
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詳細摘要： 激光反射式技術適合超大尺寸可見光元件和系統的裝調和檢測，可增加短波紅外、中波紅外、長波紅外光學模塊，以適合相應波段的系統裝調、裝配。可見光和紅外共用寬波段鏡頭，...
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詳細摘要： 快速、精確測量非球面的傾斜可單獨整機使用，也可集成到LAS主機上，同時實現偏心和傾斜測量非球面偏心傾斜測量精度優于0.2um 和 5 arcsec
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詳細摘要： 采用透射測量，測量軸上MTF、EFL、BFL、FFL和ROC（結合Vertex測量選項）集成到LAS主機上矢狀和切向MTF均可測量并給報告
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詳細摘要： 鏡片真空吸附及夾持工具Lens Handler1）用于鏡片夾持、觀察、擦拭及涂黑2）避免手持或接觸光學鏡片3）變速旋轉真空吸附轉軸4）Delrin柔性接觸真空吸...
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詳細摘要： Microdiamant公司成立于1952年，擁有歐洲的獨立超微粉粉碎機，生產能力高達6000多萬克拉，1987年獲得ISO9001的認證。鉆石讓人著迷——無論...
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詳細摘要： 美國Photonic Cleaning Technology公司研制生產的First Contact光學表面清潔保護劑，刷涂或噴在表面后形成一層薄膜緊密地覆蓋在...
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詳細摘要： Optilayer光學薄膜設計軟件被認為是計算速，功能大，界面最友好的薄膜設計軟件，軟件共包含三個模塊：OptiLayer薄膜設計主模塊, OptiChar光學...
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詳細摘要： 計算機生成的全息圖（CGH）是數字生成全息干涉圖案的方法。 通過數字計算全息干涉圖樣并將其印刷到掩模或膠片上，隨后通過合適的相干光源進行照明等方式，可以生成全息...
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詳細摘要： 該儀器基于光熱共路干涉儀（PCI）技術制造，這是一種改進的熱透鏡測量技術。泵浦激光的聚焦光束產生局部熱效應，光學探針在加熱區域發生相位畸變。探測器把相位畸變引起...
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詳細摘要： LenScan鏡面定位儀，可以高精度確定光學系統中各個光學表面相對位置，比如鏡間距、透鏡中心厚度、光程差等，用于光學裝配，尤其是鏡頭組的裝配，適合于物鏡、非球面...
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詳細摘要： 調制傳遞函數（MTF）是的光學成像質量控制標準，它表征了光學系統在軸上和像場中的分辨率。自1991年以來，OEG GmbH一直從事MTF測量領域的工作，提供了全...
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詳細摘要： OTS 200和 OTS 500光學測試站是測量所有經典光學參數的系統，例如EFL（正/負）、BFL、FFL、Radius（凹/凸）、軸上的MTF，以及單透鏡/...
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詳細摘要： 哈特曼探測技術起源于1904年，約翰內斯·哈特曼（Johannes Hartmann）發表了一種使用帶孔的金屬掩模來測量物鏡的技術。1971年，羅蘭·夏克（Ro...
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詳細摘要： SHSInspect RL模塊是靈活的波前測量工具，采用雙通光路對光學元件及系統進行功能測試。它將SHSLab波前傳感器、光源以及成像光學器件集成在一體化的緊湊...
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詳細摘要： StrainScope Flex是一款成像式應力儀，快速測量玻璃或塑料內部的機械應力，在線測量并實時顯示應力信息，可靈活替代傳統偏光顯微鏡或偏光光譜儀的應用，并...
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詳細摘要： StrainScope Optics實時應力儀采用成像式原理，樣品置于探測器的共軛位置，可以快速準確測光學平板或光學元件的應力雙折射。
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詳細摘要： StrainScope Stepper適用于大口徑樣品的應力雙折射的測量，采用StrainScope測量頭與準直光源，可以更準確地測量樣品的應力分布，并通過拼接...
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