詳細摘要: 采用光腔衰蕩技術分別或同時測量高反/高透激光薄膜元件的反射率(R)、透過率(T)或光學損耗(δ,吸收與散射損耗之和),測量精度優(yōu)于1ppm。
產品型號:所在地:北京市更新時間:2025-02-12 在線留言
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詳細摘要: 采用光腔衰蕩技術分別或同時測量高反/高透激光薄膜元件的反射率(R)、透過率(T)或光學損耗(δ,吸收與散射損耗之和),測量精度優(yōu)于1ppm。
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