【儀表網(wǎng) 儀表標準】電子探針顯微分析是微束分析技術中一個應用極為廣泛的領域，是通過各種材料或產(chǎn)品的微米尺度成份和結(jié)構(gòu)分析來進行質(zhì)量管理和質(zhì)量檢驗的重要技術手段。電子探針顯微分析的物理基礎是基于高能電子與試樣相互作用激發(fā) X 射線和 X 射線光譜學的原理。
在電子探針顯微分析技術發(fā)展和應用過程中，我國發(fā)布了《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006。但隨著電子探針顯微分析技術的發(fā)展以及應用需求的不斷變更，原版標準以及不再完全適用于新情況。因此，國家標準化管理委員會決定對《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006進行修訂。
本標準按照 GB/T 1.1-2020 《標準化工作導則 第 1 部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》 和 GB/T20000.2-2009《標準化工作指南 第 2 部分：采用國際標準》給出的規(guī)定起草。 本標準使用翻譯法等同采用 ISO 23833《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語》(英文版)第二 版。 本標準代替 GB/T 21636-2008《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術語》。
新版標準定義了電子探針顯微分析實踐中使用的術語，包括一般概念的術語和按儀器、分析方法分類的特定概念的術語。適用于相關領域(SEM、AEM、EDX 等)的所有標準和實踐文件，用于定義通用術語。
按要求，新版《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術語》將替代《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006。
與 GB/T 21636-2008 相比，新版標準主要變化如下：
——增加了部分術語和定義；
——修改了部分術語的定義、對部分術語增加了新注解；
——刪除參考文獻[3]、[4]、[5]、[6]，并補充了新的參考文獻；
——增加了中文索引
電子探針顯微分析被廣泛應用在高技術產(chǎn)業(yè)、基礎工業(yè)、農(nóng)業(yè)、冶金、地質(zhì)、生物、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護、商檢貿(mào)易乃至刑事法庭等行業(yè)中。
電子探針顯微分析是一種用于定性和定量分析固態(tài)試樣(包括金屬、陶瓷、玻璃、礦物、聚合物、粉末等)中元素成分的現(xiàn)代分析技術，具有微米級的橫向和深度分辨能力，可廣泛應用在高技術產(chǎn)業(yè)、基礎工業(yè)、農(nóng)業(yè)、冶金、地質(zhì)、生物、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護、商檢貿(mào)易乃至刑事法庭等行業(yè)中。統(tǒng)一電子探針顯微分析術語，不僅有利于電子探針顯微分析技術的發(fā)展，也有利于各行各業(yè)開展分析工作。（詳情詳見附件）
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