電子探針

摘要 數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀 型號:DL10-1934B

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場發射電子光學系統、將島津EPMA分析性能發揮到從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發射電子光學系統

摘要 從軟件到硬件凝結了，鑄就了新一代EPMA

摘要用途：用于各種需要測溫的場合等特點：筆型結構，全不銹鋼探針，準確度高，可快速測溫功能多--攝氏（℃）華氏（°F）自由轉換，制冷、制熱、家庭廚房都可用LCD顯示，測量范圍大增，穩定性高按鍵功能1、ON/OFF:開關功能2、HOLD鍵：在顯示溫度狀態下，按此鍵可將LCD的...

摘要 簡單介紹 日本制西鐵城CITIZEN電子比測探針，IPD-P510、IPD-P510-03N、IPD-P510N、IPD-P510N-03N。

摘要 簡單介紹 日本西鐵城電子比測探針，型號：IPD-B505F、IPD-B505F-03N。測量范圍：5mm,*小讀數：0.0005mm,精度：0.001mm.

摘要 簡單介紹 西鐵城電子比測探針 電子比測探針 品牌:西鐵城　CITIZEN 型號:IPD-P510/P510D/B505F 產地:日本

摘要 簡單介紹 日本制西城鐵CITIZEN電子比測探針，型號：DTH-P20、DTH-P40、DTH-P16AL、DTH-P70W。

摘要 高靈敏度·高精度·高分辨率「簡單?易懂的操作」從軟件到硬件凝結了，鑄就了新一代EPMA

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場發射電子光學系統將島津EPMA分析性能發揮到從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發射電子光學系統

摘要 （電子探針）EPMA-8050G

摘要 （電子探針）EPMA-1720 Series

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場發射電子光學系統、將島津EPMA分析性能發揮到從SEM觀察條件到1μA量級，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發射電子光學系統

摘要 電子探針EPMA-1720 Series

摘要 產品信息高靈敏度高精度高分辨率「簡單易懂的操作」從軟件到硬件凝結了，鑄就了新一代EPMA

摘要該電子探針臺與MFP-3D原子力顯微鏡的掃描儀相連接。該裝置可以實現在原子力顯微鏡掃描樣品的同時對樣品進行電學探測、電偏壓和其他測量。另外還可以配置多種電氣連接，并與各種成像模式相結合。 詢價 增加到詢價列表 在詢價列...

摘要JXA-8530F Plus 場發射電子探針顯微分析儀 2003年日本電子推出了世界商業化場發射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質等各個領域，并獲得了高的贊譽。新研發的第三代場發射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學系統有了很大...

摘要日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求...

摘要 EPMA-1720島津電子探針電子探針（EPMA）是用極細的電子束對樣品表面進行照射產生特征X射線，對特征X射線進行分光和強度測定，得到微小區域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置

摘要 產品詳情島津場發射電子探針EPMA-8050G開創新紀元的空間分辨率與超高靈敏度的結合TheGrandEPMA誕生搭載場發射電子光學系統將島津EPMA分析性能發揮到

摘要 電子探針顯微分析儀EPMA-8050G電子探針顯微分析原理及其發展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術基礎上的，該儀器實質上就是這兩種儀器的科學組合

摘要 電子探針EPMA-1720/1720(H)電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器，[1]可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成

摘要 島津鎢燈絲電子探針顯微鏡

摘要 島津場發射電子探針顯微鏡

摘要 測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務

摘要 測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務

摘要 測試項目：電子探針測試對象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測試周期：5-10個工作日，可提供樣品測試加急服務

摘要 電子探針X射線顯微分析儀儀器名稱：電子探針X射線顯微分析儀型號：EPMA-1600生產廠家：日本島津公司儀器簡介：日本島津公司的EPMA－1600型電子探針，由四道譜儀、八塊分光晶體組成

摘要

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摘要日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA （電子探針）秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式...

摘要 PHI710掃描俄歇納米探針1 . 使用CMA同軸分析器，同時實現高靈敏度和高傳輸率。即使在低電流高空間分辨率情 況下，都可輕松的進行分析

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金

摘要 統一質量SPM探針,三個矩形懸臂,軟/標準/快速/動態AFM分別成像, 檢測面鍍金