國家重點研發(fā)計劃項目“掃描式光場輻射度計”測試大綱評審會召開

　　【儀表網(wǎng) 會議報道】11月18日，國家重點研發(fā)計劃“基礎(chǔ)科研條件與重大科學儀器設(shè)備研發(fā)”重點專項“掃描式光場輻射度計”測試大綱評審會在蘇州召開。蘇州市計量測試院作為項目子課題承擔單位承辦了此次會議。
 

　　國家重點研發(fā)計劃項目“掃描式光場輻射度計”的主要研究任務是針對發(fā)光材料及器件、照明與顯示設(shè)備、紅外輻射源等對光輻射性能定量檢測的需求，突破發(fā)光體光色同步測量與校準、輻射光場分布測量與校準等關(guān)鍵技術(shù)，開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)、質(zhì)量穩(wěn)定可靠、核心部件國產(chǎn)化的掃描式光場輻射度計，實現(xiàn)在照明顯示、交通運輸和文物保護等領(lǐng)域的應用。會上，項目牽頭單位清華大學介紹了項目總體進展情況，浙江大學等課題承擔單位分別匯報了承擔課題的測試大綱。評審專家組查閱了相關(guān)資料并進行了質(zhì)詢討論，給出了寶貴的意見，最終形成結(jié)論。光場輻射掃描測量與校準關(guān)鍵機理等5個課題的項目測試大綱全部通過此次評審。
 

　　蘇州市計量測試院作為項目的子課題承擔單位，主要任務是研究掃描式光場輻射度計關(guān)鍵參數(shù)的溯源方法，建立掃描式光場輻射度計的計量溯源體系，制定掃描式光場輻射度計計量校準規(guī)范，并研制相應的計量校準裝置，從而滿足現(xiàn)場計量校準要求，保障設(shè)備測量量值的準確可靠。會后，評審專家和項目組專家一行參觀了國家平板顯示產(chǎn)業(yè)計量測試中心。