【儀表網(wǎng) 研發(fā)快訊】近日，國家重點(diǎn)研發(fā)計劃“基礎(chǔ)科研條件與重大科學(xué)儀器設(shè)備研發(fā)”——“掃描式光場輻射度計”項目啟動暨實(shí)施方案論證會在清華大學(xué)召開，金國藩院士、柴之芳院士等作為技術(shù)專家組成員出席會議。蘇州計量測試院國顯中心參與項目中課題3“掃描式光場輻射度計的工程化開發(fā)”。
會上，專家組對項目進(jìn)行了論證，認(rèn)為該項目有望突破傳統(tǒng)遠(yuǎn)場測量限制，實(shí)施近場分布式高精度測量；項目技術(shù)路線、考核指標(biāo)明確，課題設(shè)置合理；項目階段目標(biāo)和分工明確，計劃安排合理；項目交流及檢查機(jī)制健全，實(shí)施方案合理可行。專家組一致同意通過實(shí)施方案論證。
近年來，蘇州計量測試院國顯中心致力于科技創(chuàng)新，多次參加國家級、省部級科技項目，獲得良好的成果并取得了有效的推廣應(yīng)用。
蘇州計量測試院表示，此次參與國家重點(diǎn)研發(fā)計劃，將進(jìn)一步加強(qiáng)蘇州計量測試院與大院大所的合作，培養(yǎng)蘇州計量測試院人員的科技創(chuàng)新能力，提升蘇州計量測試院的技術(shù)能力和影響力，促進(jìn)產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。
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