μPhase® VERTICAL -用于實驗室、生產和研究的靈活、緊湊型干涉儀
| μPhase® VERTICAL是一臺功能比較齊全的干涉儀，具有模塊化設計，可以根據客戶要求進行單獨配置。 |  干涉儀測量鏡片和表面和半徑 |
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主要特點
*系統靈活、可用于車間和實驗室；
*立式機身，占地面積小；
*Z軸電動導軌；
*傾斜及X/Y平移調整；
*適用于各種反射和投射測量；
*集成的自動測量半徑；
*可選CGH，用于測量非球面、環面或圓柱表面測量；
μShape干涉儀軟件
| 每個μPhase干涉儀都提供了一個應用的μShape軟件的版本，它用于測量平面、球面，圓柱面、復曲面和非球面或波陣面的形貌，適用于生產，實驗室和研究。附加模塊可以使軟件使用客戶的需求，即使購買了μPhase系統，也可以隨時添加這些模塊。 該軟件控制和顯示測量結果，存儲和記錄所有測量原始數據，并確保透明度和可追溯性。 憑借其清晰的驅動用戶界面。μShape可以處理各種測量要求，并提供了幾個擴展μShape功能的模塊。 |  μShape干涉儀軟件 |
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| *具有不同訪問權限的不同用戶級別； *敏感問題在線幫助； *輕松配置的模板，用于測量任務和分析； *圖形窗口可以以多種圖形格式存儲（bmp，jpg...）； *將單個參數或選定數據字段導出文本，二進制或其他常用的文件格式（例如：QED，Zygo，XYZ，DigitalSurf）； *測量結果以二維或三維的參數貨圖形顯示為橫截面； *測量協議一目了然地顯示結果，并且可以進行廣泛配置，包括客戶徽標； *常用的程序功能的快捷方式； *各種程序模式允許使用集成的實時相機圖像單獨顯示校準和測量過程及其參數； *使用μShape程序文件中的樣本數據存儲所有參數和設置，包括窗口大小和位置。 *定期更新可持續改進，可根據要求體用軟件功能。 |  多個孔徑附加 |
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附加模塊
為了便于測量擴展與進一步分析，μShape軟件提供了多種拓展模塊，如下所示：
*在球面或CGH設置中分析非球面；
*外部通訊接口，允許外部程序控制干涉儀，如在自動化系統中。
*可檢測玻璃板的同質性；
*可聚焦或不可聚焦元件與系統的MTF的分析；
*可一次測量多個孔徑，如在拋光磨頭上；
*同時統計分析多個子孔徑；
*棱鏡和楔角的檢測與分析；
*考慮已知樣品的偏差，例如光學設計的偏差；
*軟件分析工具可彌補車床加工的誤差；
*晶片分析；
*粗糙度與PSD分析；
*靜態條紋分析，用于不穩定環境中進行快速測量；
軟件附加項
Asphere分析模塊
非曲面模塊在非球面設置中使用計算機生成的全息圖（CGH）分許旋轉對稱的非球面，在球面設置中分析非曲面，可輸入和存儲非曲面的數據，，支持多種格式，非球面擬合能夠除去調整誤差和系統設置誤差。
Cylinder分析模塊
Cylinder模塊可在cylindrical設置中分析圓柱形樣品（使用CGH），圓柱形擬合能夠除去調整誤差。
外部接口模塊
外部接口模塊允許μShape和外部軟件之間進行通訊。如LabVIEW.
光纖連接模塊
光纖連接附加模塊根據國際IEC慣例提供PC型（物理接觸）光纖連接器端面分析，一次完成主要參數的測量并可選擇顯示“通過/未通過”結果。
同質性模塊
在這一模塊中，兩個影響通過樣品光路的參數‘——同質性（折射率變化）和厚度變化能夠被確定。
橫向拼接模塊
借助外部控制與分析程序，μStitch,您的干涉儀可以以子孔徑測量較大的平面或球面樣品，并將它們拼接在一起。
數字模塊
在這個模塊中，不同的數據可通過數字計算分析生成附加結果的效果圖，暫不可進行矩陣操作；
多孔徑分析模塊
該模塊能夠在一個視場范圍內對未連接的子孔徑進行測量和分析，例如測量固定在拋光磨頭上的部分。
多重統計分析
當樣品規格規定不同樣品子區域的不同限制時，MultStat模塊可在一次測量中完成相關的計算，并分列出每個區域的結果。
棱鏡分析模塊
90°直角棱鏡的角誤差與楔角角度可通過分析角度偏差造成的干涉條紋圖樣測量。
樣品標準數據模塊
樣品標準數據能夠在考慮附加的樣品誤差，例如，與設計相關的標準誤差參數。
工具補償模塊
應用于μShape軟件的工具補償模塊能夠補償轉臺的準直誤差。
晶片模塊
晶片分析允許將矩形區域的尺寸的圖形孔徑進一步分類，并通過算數平均值表征每個子區域。
Torus分析模塊
在Torus軟件的輔助下，附加環形樣品在toric或spherical設置中被分析，，余下的調整誤差可通過環形擬合消除，適合檢測隱形眼鏡和晶片的模型。
楔形分析模組
楔形分析模組使用待測樣品后的輔助鏡，可經一次測量確定平面鏡與光學平板的楔角。
用戶定制模組
TRIOPTICS開發了軟件的干涉測量功能，并提供可定制的測量程序，計算特定參數，依需求顯示和輸出數據，您可以了聯系我們滿足您的更多測量需求。
| | μPhase VERTICAL |
| 樣品類型 | 平面 球面 環面 |
| 樣品尺寸（測量范圍） | 可達φ100mm |
| 樣品重量(MAX) | 1.5kg |
| 校準工具 | 手動XY方向調整】傾角調整和聚焦 |
| 測量半徑范圍 | 約300 mm |
升級與配件
μPhase具有模塊化的系統，其應用范圍可通過升級軟件與配件進行拓展，下列配件與功能都可以額外購買。
μPhase 500高分辨率
μPhase 500相機分辨率可被升級為1000 x 1000像素，該功能在購買時或之后實現。
配件
多種測量鏡頭
所有μPhase設備都具有卡口連接功能，可實現不同的系統配置之間快速和簡便的交換，使干涉儀的應用范圍在購買后仍可繼續擴大。
平面、球面參考表面
各種直徑的無涂層表面或鏡面表面，以實現對比度和測試目標適應性。
分析
不直接連接μPhase硬件也可以離線分析與文檔整理、
