光學儀器

摘要 HP880 光強分布測試儀，用于LED射燈、半導體發光器件等小型燈具配光曲線、光強數據、光束角、等效光通量的測試。整個測試過程由計算機控制自動

摘要 LED配光曲線自動測試儀，專門用于測量LED的配光曲線（光強分布）、光束角中心光強等光度參數，符合CIE-127-1997條件A或B

摘要 LED光通量測試儀配積分球，光通量測試儀配合各種積分球用于測量大小功率LED的總光通量及相關電性能參數，內置恒流源，操作方便、顯示直觀，適合LED電參數光通量快速測試和質量控制。

摘要SS200LM是遮光筒式弱光微光亮度計（輝度計、全數字微光亮度計），采用 SMT32芯片、嵌入式系統，高速16位AD取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定， 適用性強。該儀器測量應急出口標志、背光源、面光源等的亮度均勻性測...

摘要SuperViewW1輪廓度光學測量儀由照明光源系統，光學成像系統，垂直掃描系統以及數據處理系統構成。針對芯片封裝測試流程的測量需求，SuperViewW1非接觸式光學輪廓測量儀的X/Y方向標準行程為140*100mm，滿足減薄后晶圓表面大范圍多區域的粗糙度自動化檢測...

摘要SuperViewW1國產白光干涉測量儀專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。分辨率0.1μm，重復性0.1%，應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。廣泛應用于如納米材料、航空航天...

摘要 弱光微光亮度計，采用 SMT32芯片、嵌入式系統，高速16位AD取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定， 適用性強。

摘要SuperViewW1三維光學輪廓形貌儀是一款既可以用于科學研究，也可以用于工業產品的光學檢測儀器。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中，測各類...

摘要SuperViewW1光學輪廓測量儀在鏡頭的上方安裝有機械防撞傳感器，當鏡頭向下位移與樣品表面直接接觸時，觸發感應器，鏡頭與樣品表面變為軟接觸，并觸發緊急停止開關，不再響應向下位移的指令，避免鏡頭和樣品的損傷。其雙通道氣浮隔振系統，既可以接入客戶現場的穩定氣源也可以接...

摘要SuperViewW1白光干涉三維光學輪廓儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，可測各類從超光滑到粗糙、低反...

摘要 中圖白光干涉儀采用了CCD取代了顯微鏡中的目鏡，可以直接從電腦上實時視頻窗口觀察樣品表面形貌，也可以通過重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌，樣品表面形貌展示得更加清晰，圖像更大，觀察更加方便。

摘要SuperVirewW1光學3d表面輪廓儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數，廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEM...

摘要 W系列白光干涉儀由照明光源系統，光學成像系統，垂直掃描系統以及數據處理系統構成。是目前三維形貌測量領域高精度的檢測儀器之一。在微電子、微機械、微光學等領域，白光干涉測量儀器可以提供更高精度的檢測需求。

摘要 全自動型激光粒度測試儀是一款新型的激光粒度分布儀它的測試下線可以達到40納米，主向光電接收器共71個光電池大探測角達21.5o；

摘要 LED光電性能分析儀配合光強裝置用于測量小功率LED的中心光強、光強擴散角及相關的電性能參數,內置恒流源，操作方便、顯示直觀，適合LED電參數光強快速測試和質量控制,符合CIE-127-1997條件A或B。

摘要中圖儀器SuperViewW1光學輪廓測量儀品牌由光學照明系統、光學成像系統、垂直掃描控制系統、信號處理系統、應用軟件構成。以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，非接觸測量樣品表面形貌，主要用于表面形貌紋理，微觀結構分析，用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲...

摘要 除了用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，W1三維光學輪廓儀具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變測量以及表面形貌測量。是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。

摘要 定制光致發光熒光量子效率測試系統是對發光材料的發光特性，發光效率等光學性能進行測試的系統，可以測薄膜，液體和粉末。

摘要 手持式光源光色亮度測試儀器波長范圍：380-780nm、5.0寸IPS高清觸摸屏、4G內存1200線光柵、CCD、精密電路、高速AD取樣， 保存文件格式：GDF、Excle、PDF

摘要光學掃描式成像測量機輪廓儀，以光學成像測量系統為基礎，配合高精度運動機構和花崗巖龍門式底座，實現了測量精度、速度、穩定的**結合；結合高精度圖像分析算法，并融入閃測原理，在測量范圍內，任意擺放工件位置、方向、角度，儀器都可自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成...

摘要 LED光源星光模擬器由LED光源，星點板，平行光管，準直透鏡，驅動電源，控制軟件等組成。通過調節LED的驅動電流實現不同級別的亮度輸出，從而實現不同星等亮度要求。

摘要 定制化方案 球諧系統，在圓球支架上均布LED顯示屏，再在球面內覆蓋磨砂亞克力內殼，實現均勻效果。

摘要 定制的太陽模擬器系統方案，應用：生物實驗，寬光譜光源；波長覆蓋整個太陽光譜：290nm~2500nm;

摘要 VX系列影像一鍵式量測儀可以滿足各類零部件輪廓尺寸快速測量需求，工件無需定位，任意擺放，一鍵完成二維平面尺寸測量，搭載光學非接觸式測頭還可實現高度尺寸、平面度等參數的精密快速測量，還可搭載臥式轉臺，實現360°多面測量。

摘要 ?SuperViewW1三維白光干涉形貌儀支持納米級高度測量，0.4μm級別的線寬測量，最大支持80倍的槽深寬比測量，具備點、線、面相關的寬度、高度、角度、直徑等各類輪廓尺寸測量功能。

摘要SuperViewW3大尺寸微觀形貌儀白光干涉測量各種產品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、...

摘要 SuperView W1三維光學成像輪廓儀測粗糙度對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面粗糙度形貌的3D測量。

摘要 ?CH系列自動光學影像量測儀其數字化影像測量技術有良好的誤差修正優勢，通過建立在嚴格數學模型的軟件計算和實時控制來修正，能使非線性誤差降低，提高了測量精度。

摘要 中圖儀器W1國產白光干涉儀可以對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

摘要LED光強/光通量測試儀 配合光強裝置用于測量小功率LED的中心光強、光強擴散角及相關的電性能參數內置恒流源，操作方便、顯示直現，適合LED電參數光強快速測試和質量控制，符合CIE-127-1997條件A或B配合各種積分球用于測量大小功率LED的總光通量及相關電性能參...

摘要頻閃測試系統 光度變化曲線測量。也可用于穩定光源的光度參數測量。可與積分球、光強裝置、亮度筒配合使用采用高速CPU處理器高精度電子光學傳感器，高速16位AD取樣，性能更穩、精度更高。系統的升級采用源代碼更加開放的嵌入式操作系統，更加符合智能產品的應用設計為儀器后續升...

摘要 醫療冷光源測試系統采用高速CPU處理器高精度電子CCD光學傳感器，進口光柵、16位AD、利用長焦交叉非對稱CT分光系統原理開發設計1nm的光學分辨率，更寬波長范圍，性能更穩、精度更高。

摘要光譜透過率反射率全光譜透過率測試儀采用光纖光譜儀、高速AD采樣、A光源積分球可測試光譜變化曲線原始光譜AD值及每nm光譜數據、光通量透過率等測參數測量功能于一體。采用高清觸摸7寸 IPS觸摸大屏，各測量參數及曲線實時顯示，使用方便快捷，適用于各種光學元件、平面玻璃濾光...

摘要光譜亮度計是新一代手持式的光源光色測試儀器，采用先進的微型光譜儀、嵌入式操作系統和微電腦技術相融合，便捷現場測試，使測試更加便捷簡單，更加符合現場應用場景的參數測試分析及驗證。適用于各類屏幕、投影儀、電影幕、LCD幕、點光源、汽車面板測試參數亮度、朗伯、色域、色域覆蓋...

摘要HP8000Pro LED 快速光譜分析系統HPS00OPrO LED FAST-SCAN MICRO-SPECTROPHOTOCOLORIMETER適用于測量LED相對光譖功率分布P入，色品坐標(x,y).(uv)、相關色溫Tc、顯色指數Ra、色容差SDCM、峰值波...

摘要 SuperViewW1白光干涉測量儀在鏡頭的上方安裝有機械防撞傳感器，避免鏡頭和樣品的損傷，雙重防護，守護設備和產品。

摘要 HP821 LED光電性能分析儀，配合光強裝置用于測量小功率LED的中心光強、光強擴散角及相關的電性能參數,內置恒流源，操作方便、顯示直觀，適合LED電參數光強快速測試和質量控制,符合CIE-127-1997條件A或B

摘要 配合各種積分球用于測量大小功率LED的總光通量及相關電性能參數，內置恒流源，操作方便、顯示直觀，適合LED電參數光通量快速測試和質量控制

摘要 專門用于測量LED的配光曲線（光強分布）、光束角中心光強等光度參數，符合CIE-127-1997條件A或B

摘要 HP1020 LED輸入輸出特性測試儀，滿足IEC62384:2006、GB/T24825-2009等及國內和國際標準對LED燈驅動電性能的測試要求

摘要 HP1000 照明燈具、光源成品全檢分選測試儀，參數:色溫、照度、CQS、顯色指數、色容差、電源、功率、功率因數功能：上下線設置、上下線判斷、自動感應觸發測試、不合格報警、測試進度反饋等配合自動化產線功能

摘要 LED汽車大燈、手電筒聚光燈具測試儀光通量、色溫、照度、顯色指數、色容差、色品坐標及電性能

摘要波長范圍：350-800nm主要參數：葉綠素加權、光合光子通量密度、光合輻(射)功率、遠紅光輻功射率色溫、光通量、顯色指數、色容差、輻射功率、紅色比、藍色比、綠色比、PPF、PPE、PRF、色域指數（Rg）、逼真度（Rf）、色質指數CQS、電流、電壓、功率、功率因素、...

摘要 HP2000E 外量子效率光電性能分析儀，主要參數：色溫、光通量、顯色指數、色容差、輻射功率、坐標、紅色比、藍色比、綠色比、電流、電壓、功率、功率因素、光效

摘要主要測試參數：主要參數：色溫、光通量、顯色指數、色容差、輻射功率、紅色比、藍色比、綠色比、色域指數（Rg）、逼真度（Rf）、色質指數CQS、電流、電壓、功率、功率因素、光效、電參輸入輸出、諧波等GB50411-2019建筑節能工程施工質量驗收規范GB/T9468-20...