超聲波探傷儀

摘要 在工業超聲探頭方面，SIUI可向客戶提供500種以上的探頭產品，包括相控陣探頭、直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚焦探頭、可變角度探頭等多個系列，產品性能*國內同行，質量穩定可靠。

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摘要?6.5”TFT液晶屏，分辨率640×480?32個發射接收通道，能夠支持16/32/64/128陣元探頭?雙極性方波發射，發射脈寬可調?發射單點聚焦，接收動態聚焦?同時具備常規和相控陣兩種使用模式，做到一機兩用，方便客戶的檢測和評估?具備線陣掃描、固定角度...

摘要測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦...

摘要?測量范圍：0.5~600mm?小尺寸、輕重量（含電池僅0.6Kg）?5寸800×480像素高分辨率彩色TFT-LCD液晶顯示屏，高亮LED背光燈（陽光下可視）?具有自動搜索功能，能夠根據檢測底波自動調整顯示范圍和增益?標準（R-B1，始脈沖到*次回波），穿...

摘要?強光下可清晰顯示的單色液晶顯示屏（帶背光），分辨率128×64像素?支持標準（R-B1，始脈沖至第1次回波）和穿透涂層（B1-B2,*次回波至第2次回波）工作模式?測量分辨力 ±0.01 mm / ±0.1 mm?具有配機試塊自動校零或...

摘要?強光下可清晰顯示的單色液晶顯示屏（帶背光），分辨率128×64像素?支持標準（R-B1，始脈沖至第1次回波）和穿透涂層（B1-B2,*次回波至第2次回波）工作模式?測量分辨力 ±0.01 mm / ±0.1 mm?具有配機試塊自動校零或...

摘要?強光下可清晰顯示的單色液晶顯示屏（帶背光），分辨率128×64像素?測量范圍0.80 mm ~ 400.0 mm（鋼），測量分辨力 ±0.01 mm / ±0.1 mm?具有配機試塊自動校零或用戶自定義厚度校零（單點/雙點校正）等功能?...

摘要?單色液晶顯示屏（帶背光），分辨率128×64像素?測量范圍0.80mm～300.0mm（鋼），測量精度±0.01mm/±0.1mm?工作頻率范圍0.5～10MHz（-3dB）?可配套探頭包括5MHz、2MHz分割式雙晶探頭、高溫探頭等多...

摘要 ?工作頻率達20MHz，分三個頻段，可配用高頻窄脈沖探頭獲得高分辨力?衰減器為衰減型，總衰減量90dB，特設0.5dB×20高精度衰減器?具有回波記憶功能和多種信號輸出接口?高亮度、內刻度示波管，波形清晰

摘要 ?工作頻率達20MHz，分三個頻段，可配用高頻窄脈沖探頭獲得高分辨力?衰減器為衰減型，總衰減量90dB，特設0.5dB×20高精度衰減器?具有*回波跟蹤功能，可進行水浸法探傷?具有高頻不檢波信號等多種接口，可多機聯機循環工作?高亮度、內刻度示波管，波形清晰

摘要 · 工作頻率達10MHz，可配用窄脈沖探頭獲得高分辨力· 采用衰減型高精度衰減器，總衰減量80dB· 可交直流電工作，小型輕便，安全可靠

摘要 · 電子控制聲束角、聚焦和掃描步徑；· 減少設置與掃查時間；· 通過電子聚焦增加靈敏度和信噪比；· 減少或者免除機械或者手動控制；

摘要 · 電子控制聲束角、聚焦和掃描步徑；· 減少設置與掃查時間；· 通過電子聚焦增加靈敏度和信噪比；· 減少或者免除機械或者手動控制；

摘要 1. 極小的外形設計；2. 換能器自聚焦；3. 楔塊可適用于不同管徑，從直徑20mm至直徑115mm；4. 可與自動檢測裝置配合使用。

摘要 1. 極小的外形設計；2. 換能器自聚焦；3. 楔塊可適用于不同管徑，從直徑20mm至直徑115mm；4. 可與自動檢測裝置配合使用。

摘要 1. 極小的外形設計；2. 換能器自聚焦；3. 楔塊可適用于不同管徑，從直徑20mm至直徑115mm；4. 可與自動檢測裝置配合使用。

摘要 1. 極小的外形設計；2. 換能器自聚焦；3. 楔塊可適用于不同管徑，從直徑20mm至直徑115mm；4. 可與自動檢測裝置配合使用。

摘要 極小的外形設計；2. 換能器自聚焦；3. 楔塊可適用于不同管徑，從直徑20mm至直徑115mm；4. 可與自動檢測裝置配合使用。

摘要 1. 極小的外形設計；2. 換能器自聚焦；3. 楔塊可適用于不同管徑，從直徑20mm至直徑115mm；4. 可與自動檢測裝置配合使用