由國際測量與儀器委員會、中國國家自然科學基金委員會、中國計量測試學會、中國儀器儀表學會聯合主辦，哈爾濱工業大學和國際測量與儀器委員會、全國計量儀器專業委員會承辦的第六屆國際精密工程測量與儀器學術研討會（ISPEMI 2010）于8月8日-11日在杭州成功舉辦。

本次會議共收到論文637篇，收錄論文266篇。到會代表約260人，其中境外代表約60人。中國計量測試學會常務理事、計量儀器專業委員會主任委員、會議主席兼程序委員會主席、哈爾濱工業大學超精密光電儀器工程研究所所長譚久彬教授主持會議。會議邀請德國聯邦物理研究院（PTB）首席科學家、精密工程部部長海爾德•布斯教授，澳大利亞科學院與工程院院士、澳大利亞斯威本大學副校長、著名多維光存儲技術專家顧敏教授，美國科學院院士、加州大學伯克利分校著名超分辨光學技術專家張翔教授，美國亞利桑那大學著名大型光學元件超精密加工與測量專家詹姆斯•伯格教授，日本東北大學超精密加工與測量專家高偉教授，俄羅斯科學院著名衍射光學專家亞歷山大教授，英國倫敦大學國王學院著名共焦顯微技術專家蒂姆•活森教授和國防科技大學超精密光學加工與測量技術專家李圣怡教授8位世界知名學者到會作特邀報告。

會議研討內容涉及儀器科學理論與方法、儀器與系統、超精密傳感技術、先進光學加工與測量技術、微/納制造與測量技術、生物醫學光學與儀器、激光測量技術與儀器和光電儀器技術等前沿方向和儀器學科領域重大熱點問題。會議共組織了16個分會，口頭報告 84篇，其中專題邀請報告21篇，張貼報告182篇。哈爾濱工業大學金鵬教授主持了微納米技術與測量分會，并作了“微光學元件納米壓印加工”專題邀請報告。

國際精密工程測量與儀器學術研討會是在ISIST（儀器科學與技術學術研討會）和ISPMM（國際機械工程精密測量學術研討會）兩個系列國際會議的基礎上，為規范會議管理和更加有力地把儀器科學與技術學科領域的國際學術會議水平推向新高度，在國家自然科學基金委員會、中國計量測試學會和中國儀器儀表學會建議下合并產生的。國際光學工程學會（SPIE）將成為本系列會議的協辦單位，論文全部收入SPIE出版的論文集，并由EI和ISTP全部收錄。