詳細摘要： 掃描型膜厚測試儀全自動，超快速，高精準等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學特性，利用光學反射方法來測量和自動分析薄膜涂層的表征。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2024-05-21 在線留言
北京中兆國儀科技有限公司
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詳細摘要： 掃描型膜厚測試儀全自動，超快速，高精準等膜厚表征繪制和膜厚涂覆的光學特性，利用光學反射方法來測量和自動分析薄膜涂層的表征。
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詳細摘要： 希臘thetametrisis基礎型膜厚儀廣泛范圍的不同應用，如標準吸光度/透射率、反射測量、以及在不同溫度和環境下（甚至是液體中）的薄膜表征的測定。
產品型號：所在地：北京市更新時間：2024-05-20 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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