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  • 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
    中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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    材料測(cè)試儀
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    材料制樣設(shè)備
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    鐵電材料測(cè)試時(shí)需要注意的一些問(wèn)題

    時(shí)間:2024-9-2閱讀:250
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    鐵電材料測(cè)試時(shí)需要注意的一些問(wèn)題


         鐵電材料是一種具有鐵電性質(zhì)的材料,在應(yīng)用領(lǐng)域中有著廣泛的用途,比如電容器、傳感器等。由于鐵電性質(zhì)對(duì)材料的電學(xué)性能有著顯著的影響,因此對(duì)鐵電材料的測(cè)試至關(guān)重要。鐵電材料測(cè)試方法主要包括鐵電性能測(cè)試和微觀結(jié)構(gòu)分析。鐵電性能測(cè)試是指測(cè)量材料的鐵電常數(shù)、鐵電疇結(jié)構(gòu)、極化強(qiáng)度等基本性能參數(shù)。常用的測(cè)試方法包括鐵電疇域觀測(cè)、極化-電場(chǎng)曲線測(cè)試以及介電弛豫測(cè)試等。這些測(cè)試方法可以幫助我們了解材料的鐵電性能和特性,為材料的設(shè)計(jì)和應(yīng)用提供重要的參考。

     


      其次,微觀結(jié)構(gòu)分析是對(duì)鐵電材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究,可以通過(guò)掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)等技術(shù)來(lái)觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)。微觀結(jié)構(gòu)分析可以揭示鐵電疇的分布、疇壁的性質(zhì)、晶格缺陷等信息,對(duì)于理解鐵電性能的起源和提高材料性能具有重要意義。
     
      另外,鐵電材料測(cè)試時(shí)需要注意一些問(wèn)題。測(cè)試環(huán)境要保持穩(wěn)定,盡量避免外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。采用合適的測(cè)試方法和儀器,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析,得出科學(xué)的結(jié)論和建議。
     
      鐵電材料在結(jié)構(gòu)上具有以下特別之處:
     
      1.基于晶體結(jié)構(gòu):鐵電材料具有特殊的晶體結(jié)構(gòu),其中離子或分子在空間中呈現(xiàn)出對(duì)稱的排列方式。在測(cè)試鐵電材料時(shí),需要考慮其晶體結(jié)構(gòu)對(duì)性能的影響。
     
      2.晶胞尺寸與對(duì)稱性:鐵電材料的晶胞尺寸和對(duì)稱性對(duì)其性能具有重要影響。通過(guò)測(cè)試鐵電材料的晶胞結(jié)構(gòu),可以更好地理解其物理性質(zhì)和電學(xué)行為。
     
      3.電極配置:鐵電材料在測(cè)試時(shí)需要使用特殊的電極配置,以確保在施加電場(chǎng)時(shí)能夠準(zhǔn)確測(cè)量其極化行為。不同的電極配置會(huì)影響測(cè)試結(jié)果,因此需要選擇合適的電極配置進(jìn)行測(cè)試。
     
      4.溫度和壓力控制:鐵電材料的性能通常受溫度和壓力的影響。在測(cè)試鐵電材料時(shí),需要對(duì)溫度和壓力進(jìn)行精確控制,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
     

      5.表面處理:為了避免測(cè)試中的表面效應(yīng)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生干擾,需要對(duì)鐵電材料進(jìn)行適當(dāng)?shù)谋砻嫣幚怼_@包括清潔表面、去除表面氧化物等步驟,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

    JKTD-1000鐵電材料特性測(cè)試系統(tǒng)

    關(guān)鍵詞:電滯回線,蝴蝶曲線,疲勞,脈沖

    1.系統(tǒng)簡(jiǎn)介:

    鐵電體具有介電壓電、熱釋電、鐵電性質(zhì)以及與之相關(guān)的電致伸縮性質(zhì)非線性光學(xué)性質(zhì)、電光性質(zhì)、聲光性質(zhì)、光折變性質(zhì)、鐵電記憶存儲(chǔ)性能等等,都與其電極化性質(zhì)相關(guān),特別是電介質(zhì)的熱釋電與鐵電性質(zhì)都與其白發(fā)極化相關(guān),由于鐵電體具有上述性質(zhì),因而在諸多高技術(shù)中有著很重要的應(yīng)用利用其壓電性能可制作電聲換能器,用于超聲波探測(cè),聲納,穩(wěn)頻振諧器,聲表面波器件等;利用其熱釋電性質(zhì)可制作紅外探測(cè)器,紅外監(jiān)視器,熱成像系統(tǒng)等利用線性光學(xué)效應(yīng)可制作激光倍頻、三倍額和頻;差頻器:利用電光性可制作激光電光開(kāi)關(guān),光偏轉(zhuǎn)器,光調(diào)器等:利用聲光效應(yīng)可制作激光聲光開(kāi)關(guān),聲光偏轉(zhuǎn)器、聲光調(diào)制器等:利用光折變效應(yīng)可制作光存儲(chǔ)器件;鐵電材料的鐵電性可制作鐵電記憶存器。

    本測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量,可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中,本測(cè)試系統(tǒng)主要由信號(hào)源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計(jì)算機(jī)通訊接口、計(jì)算機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。

    模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,能夠較全面確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能,儀器采儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。

    一、產(chǎn)品主要用途:

    1、可廣泛應(yīng)用于薄膜、厚膜的鐵電材料性能測(cè)試和研究

    2、可廣泛應(yīng)用于塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chǔ)器等鐵電材料領(lǐng)域的研究。

    二、測(cè)試主要技術(shù)參數(shù):

    1、電滯回線(包含飽和極化,剩余極化,漏電流等參數(shù))

    2、鐵電材料疲勞測(cè)試,保持性能測(cè)試等

    3、鐵電材料脈沖測(cè)試, 印跡等參數(shù)

    4、應(yīng)變/位移曲線(蝴蝶曲線)

    2、主要技術(shù)指標(biāo)

    1)        輸出信號(hào)電壓:±10000V

    2)        施加頻率:1Hz1000Hz

    3)        波形:正弦波、三角波、方波

    4)        USB示波器:4CH70MHz

    5)        絕緣電阻/漏電流測(cè)量:10TΩ/1pA,1000V

    6)        電滯回線測(cè)試變溫范圍:RT~200

    7)        變溫測(cè)量控制單元:精度0.1℃;功率:500W;接口:RS485

    8)        測(cè)試采樣速度:<5/樣品•溫度點(diǎn)  

    9)        樣品規(guī)格:陶瓷塊體:Φ10-100mm,厚度0.1~10mm

                 薄膜樣品:Φ10-100mm,厚度1~100μm

    10)    控制方式:計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算

    11)    數(shù)據(jù)采集分析軟件:

    a)        運(yùn)行環(huán)境 windows 7

    b)        測(cè)量時(shí)實(shí)時(shí)顯示采集到的電滯回線,可定量得到鐵電材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,可選擇測(cè)量模式、掃描電場(chǎng)的幅值等;

    c)        依據(jù)位移回歸法繪制樣品D33應(yīng)變/位移曲線(蝴蝶曲線)

    d)        測(cè)量結(jié)果可以保存為數(shù)據(jù)文件供Origin等數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用處理,也可保存和打印微機(jī)屏幕顯示結(jié)果界面;

    e)        具有數(shù)據(jù)平滑化、電滯回線校正等數(shù)據(jù)處理功能。

                        


     

                                                          電滯回線(一)

     


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