TDFE-3000A型薄膜鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯...

Radiant Multiferroic II鐵電材料測試儀無需改變測試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV和IC的測試。配備額外的模塊，可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能...

TDJC-5000型電滯回線及高電壓介電擊穿強(qiáng)度測試系統(tǒng)是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量...

JKHT-400系列高壓脈沖放大器目前已經(jīng)是生物、醫(yī)療、電子、物理、化學(xué)等行業(yè)的測試工具。此外，放大器在新型的半導(dǎo)體材料，薄膜材料，聚合物材料，生物器件的研制方...

GWTD-5000型高溫鐵電測試儀是一款擴(kuò)展靈活的高溫鐵電測試儀，也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電...

ZT-4A（X）型電滯回線測量儀是一代鐵電材料參數(shù)測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關(guān)特性，可...

FE-5001型鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電參數(shù)測試儀/PUND測試，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵...

DZFE-5000W型電致應(yīng)變鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜...

FE-5000C擴(kuò)展型鐵電性能測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯...

NTRK-5000型鐵電測試儀高壓脈沖放大器是一種用于放大高壓信號的電子設(shè)備，具有高壓輸出，低噪聲，高精度，高穩(wěn)定性，高可靠性，低功耗，低成本等的優(yōu)點(diǎn)。

FE-2000A型鐵電測試儀是一款可以兼容多種功能的鐵電綜合測試系統(tǒng)，即用于鐵電體的鐵電性能測量、可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化...

FTTD-5000型變溫鐵電測試儀是一款擴(kuò)展靈活的變溫鐵電測試系統(tǒng)，也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵...

ZTFT-3000型鐵電測試儀是采用先進(jìn)集成電路設(shè)計(jì)，軟件豐富多元化設(shè)計(jì)，具備DHM動態(tài)電滯回線，C-V曲線，LM漏電曲線，F(xiàn)M疲勞曲線，PM脈沖測量，IM印跡...

JKTD-1000型鐵電材料特性測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測中，...

TDZT-04C鐵材料參數(shù)測試儀通過全局總線進(jìn)行控制，可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù)，可有效地降低電荷泄露造成的驅(qū)動能力弱及電壓泄露隱患...

FE-5000型寬量程鐵電性能測試儀是一款精度高，量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄...

JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測量系統(tǒng)，旨在針對一些特殊的要求材料需要在高溫下測量而研發(fā)的一套鐵電測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫...

JKZT-10型鐵電材料參數(shù)測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關(guān)特性，可地測出具有非對稱電滯回...

TDZT-4C型鐵電材料測試儀 是鐵電材料參數(shù)測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可精確地測出具有非對稱電滯回...

TDZT-04C 型鐵電性能綜合測試系統(tǒng)是最新一代鐵電材料參數(shù)測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及...