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鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀
鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后...

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鐵電存儲(chǔ)器
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)...

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薄膜材料機(jī)電性能
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。包括：熱導(dǎo)率thermal conducti...

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熱電熱電性能測(cè)試
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)...

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極化電流熱激發(fā)
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR，主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。

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電磁阻多鐵材料磁電
電卡效應(yīng)測(cè)試儀 ECM
電卡效應(yīng)測(cè)試儀 ECM(ElectroCaloric Measurement)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡...

型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/2/11 9:53:19 對(duì)比

電卡測(cè)試電卡效應(yīng)
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo
本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。

型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2022/2/11 9:48:22 對(duì)比

壓電分析儀低溫塊體

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