QuintSonic 超聲涂層測厚儀 返回列表頁

QuintSonic 超聲涂層測厚儀
德國Automation公司成立于1958年。長期以來一直致力于開發、研制、生產涂層測厚儀。早在公司創始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發明世界上**臺測厚儀以來，尼克斯家族經過幾代人的努力，為測厚儀領域做出了杰出貢獻。同時，也保持了技術*。在儀器的精度和抗干擾性方面，注冊了多項磚利。成為當今涂層測厚儀的*優點。
零位穩定：所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。
無需校準：多數測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統誤差。
溫度補償：涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
*的直流采樣技術：使得測量重復性較傳統交流技術有的*和提高。
單探頭量程大：0－5mm