北京金時速儀器設(shè)備經(jīng)營部
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<ul id="qqie6"></ul> 北京金時速儀器設(shè)備經(jīng)營部
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號RTS-2/RTS-2A型
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地北京市
聯(lián)系方式：胡榮健查看聯(lián)系方式
更新時間：2018-05-05 09:38:07瀏覽次數(shù)：373次
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四探針測試儀（便攜式）
是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
產(chǎn)品介紹:
RTS-2/RTS-2A型四探針測試儀（便攜式）
測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式設(shè)計體積僅為：125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深)
RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶（多晶）生產(chǎn)廠家為硅材料的分選測試，半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
四探針測試儀前面板 帶把手四探針探頭
技 術(shù) 指 標(biāo) ：
便攜式四探針測試儀按測量范圍可選配RTS-2型或RTS-2A型，區(qū)別：測量范圍不一樣。
RTS-2測量范圍 | 電阻率：0.01～1999.9Ω.cm； |
RTS-2A測量范圍 | 電阻率：0.001～199.99Ω.cm； |
RTS-2恒流源 | 電流量程分為100μA、1mA兩檔，各檔電流連續(xù)可調(diào) |
RTS-2A恒流源 | 電流量程分為1mA、10mA兩檔，各檔電流連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV； |
四探針探頭基本指標(biāo) | 間距：1±0.01mm； |
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差 | 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
整機(jī)測量zui大相對誤差 | (用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5% |
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 | ≤5% |
外型尺寸 | 125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深) |
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度：23±2℃； |
四探針測試儀（便攜式）
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