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3160 4site終端測試分類機

主要特色：

• 9K pcs 產能 (Model 3160 / 3160A )
• 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架構 (3160/3160F)
• 1 x 4或2 x 2 DUT架構 (3160A)
• 主動式熱控模組 (選購) (3160A)
• 馬達式Arm Z (3160A)
• 氣缸式側推功能 (3160A)
• 空載盤自動堆疊 (選購) (3160A / 3160F)
• 可設定的待測物間距
• 可側邊安裝測試機
• 可編程氣動式阻尼器控制，以減少接觸力的影響響
• 智慧型IC殘留檢測
• 測試良率控制
• 通用治具
• 進階版ESD標準

3160系列是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型並按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。 其高效率的模組 化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下，機臺量測之重覆性，並有助於增加機臺使用之穩 定性與維護之便利性。此外，其簡潔的機臺設計更可節省機臺於測試廠之佔地面積，幫助客戶大幅降 低生產成本。進階款3160A可按照客戶測試條件需求搭配Chroma研發的主動式熱控模組 (ATC) 達 到精準的常、高溫測試溫度要求；3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求，修改測試條件 及程序。

3160系列具備高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產 治具相容，順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外，可調式的壓測力和位置校 正以及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時保持或提 升產能的良率。