3D物位成像掃描儀

3D物位掃描儀以其*的三維立體掃描技術(shù)，為客戶(hù)提供了在高粉塵等嚴(yán)峻工況條件下的完善角解決方案，APM公司3D物位掃描儀是迄今為止可實(shí)際投入工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用僅有的一種可以準(zhǔn)確檢測(cè)固體物位、體積和質(zhì)量的創(chuàng)新和成熟技術(shù)，而且不受物料種類(lèi)、物化性能，物料貯存料倉(cāng)材質(zhì)，露天開(kāi)倉(cāng)和料倉(cāng)形狀和尺寸的影響，適用于惡劣的物料貯存環(huán)境，用物位監(jiān)測(cè)水平達(dá)到了新的高度。

3D掃描儀由三個(gè)發(fā)射天線(xiàn)、信號(hào)驅(qū)動(dòng)、電子電路三個(gè)部分構(gòu)成。內(nèi)部產(chǎn)生3-10KHz的低頻脈沖，通過(guò)三個(gè)天線(xiàn)構(gòu)成的陣列傳輸?shù)皖l脈沖，發(fā)射的脈沖達(dá)數(shù)千個(gè)點(diǎn)，每個(gè)脈沖都有良好的方向性，數(shù)千個(gè)點(diǎn)的脈沖對(duì)料面進(jìn)行掃描，并接收儲(chǔ)倉(cāng)、倉(cāng)庫(kù)或容器內(nèi)物料所返回的脈沖回波，通過(guò)儀表電子電路和計(jì)時(shí)器的精確計(jì)時(shí)，精確測(cè)量每個(gè)回聲的時(shí)間/距離，設(shè)備的數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)接收的信號(hào)進(jìn)行采樣和分析，從而測(cè)出的物位的高低、體積和質(zhì)量。通過(guò)一種特殊的算法將來(lái)自?huà)呙杵鞯臄?shù)據(jù)組合起來(lái)，并通過(guò)3D方式呈現(xiàn)容器內(nèi)物料的實(shí)際分布情況，在計(jì)算機(jī)屏幕上成像.

APM公司目前在世界范圍內(nèi)推出了四種型號(hào)的產(chǎn)品，這四種型號(hào)的產(chǎn)品都是APM公司3D掃描儀Ⅱ型產(chǎn)品，迄今為止是物位測(cè)量中的產(chǎn)品。3D物位掃描儀的四種產(chǎn)品的型號(hào)分別是S、M、MV、MVL系統(tǒng)，它們的主要功能和區(qū)別如下：

3D掃描儀S型 

采用30 °的波束角發(fā)射脈沖 ,測(cè)量平均體積、平均料位 ,適用于直徑小于4m的小型儲(chǔ)藏 ,可以形成映射點(diǎn)但是不能夠形成圖像

3D掃描儀 M型

采用70 °的波束角發(fā)射脈沖,能夠覆蓋更廣的物料表面 ,不僅可以測(cè)量平均體積,平均料位，而且還可以測(cè)量zui大zui小料位 ,適用于料倉(cāng)直徑大于4m且小于15m的料倉(cāng)或直徑小于15米的露天倉(cāng) ,可以形成映射點(diǎn)但是不能夠形成圖像。 

3D掃描儀 MV型

采用70 °的波束角發(fā)射脈沖能夠覆蓋更廣的物料表面,不僅可以測(cè)量平均體積、平均料位，而且可以測(cè)量zui大zui小料位, 適用于料倉(cāng)直徑大于4m且小于15m的料倉(cāng) ,可以形成映射點(diǎn)且能夠形成3D立體圖像。 

3D掃描儀 MVL型

MVL型系統(tǒng)是在同一倉(cāng)體上裝有兩個(gè)或兩個(gè)以上的MV型和一臺(tái)controller控制器共同組合而成的一個(gè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以對(duì)大直徑料倉(cāng)，開(kāi)放倉(cāng)進(jìn)行測(cè)量，controller控制器的功能就是對(duì)從各個(gè)3D掃描儀采集的信號(hào)進(jìn)行采集處理分析，然后將所有信號(hào)整合為統(tǒng)一的一個(gè)完整的信號(hào)送到PLC或DCSzui終提供用戶(hù)，方便用戶(hù)的監(jiān)控及控制。

以上四種型號(hào)采用低頻（3-10KHZ）測(cè)量，都具有更好的粉塵穿透能力,測(cè)量范圍均可達(dá)到70m,且可以在嚴(yán)峻的惡劣工況環(huán)境下正常可靠的工作。