X-Strata920、CMI900適用的各種厚度規格標準片 返回列表頁

   X-Strata920、CMI900適用的各種厚度規格標準片又名膜厚儀校準片，鍍層標準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩定性好
   X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式標準片

X-Strata920、CMI900適用的各種厚度規格標準片以下為常見性厚度：
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um

X-Strata920、CMI900適用的各種厚度規格標準片深圳市鼎極天電子有限公司 位于深圳寶安, 主要經銷*的精密分析儀器與設備.

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