XRF鍍層測量與分析：基本原理

博曼XRF射線裝置利用X射線熒光原理測量鍍層和成分。樣品被來自射線管的射線轟擊，產生熒光。通過熒光的能量我們可以知道樣品中存在哪些元素，通過XRF的強度我們可以分析獲得樣品的厚度和每個元素的成分。

X射線是看不見的。需要設備將X射線轉化成我們可以理解和處理的信號，以便我們可以從X射線中提取信息。此設備稱為探測器。探測器與數(shù)字脈沖器（將X射線轉換為電信號）。探測器通常有三個標準，能量分辨率，探測效率和穩(wěn)健性。能量分辨率是指分辨能量差很小的兩個光子的能力。探測效率是指記錄X射線的效率。為了實現(xiàn)更好的測量性能，所有博曼設備均配有硅探測器。

軟件

一旦樣品的熒光被收集，軟件會將x射線的強度轉為厚度和成分。軟件包通常包含兩部分，波譜處理和定量分析。

• 波譜處理軟件的功能是提取波譜中x射線的強度。涉及能量校準，波譜穩(wěn)定，峰鑒別，死時間修正，和峰修正，逃逸峰修正，重疊修正，背景扣除等。
• 定量分析軟件根據XRF強度計算厚度和成分。由于基體效應，強度和厚度/成分不容易確立關系，元素間和層之間的影響。一個元素的熒光可能被另一個元素的熒光吸收或增強。所以一個元素的熒光強度和厚度/成分之間的關系取決于材料中的其他元素。取決這些元素是什么，元素有多少。

進行定量分析

共有兩種定量分析方法,經驗系數(shù)法和FP參數(shù)法。經驗系數(shù)法如干擾系數(shù)法，a系數(shù)法等。 類似于多項式函數(shù)的的影響。這種方法在校準時需要多種標準片，校準只是在標準片很窄的范圍工作。這種方法的優(yōu)勢是不需要復雜的計算，容易理解和實現(xiàn)。

FP法需要通過理論計算來修正基材效應。理論計算是需要物理方法和基本的物理參數(shù)。理論上，F(xiàn)P不需要任何校準并且在比較廣的范圍工作。然而現(xiàn)實中，校準扔然需要使物理參數(shù)和測試系統(tǒng)不確定行小化。FP的算法在七十年代建立的，不同的FP軟件差異是沒有意義的。FP參數(shù)法是比經驗系數(shù)法更難懂的。博曼在軟件上提供經驗系數(shù)和FP法兩種方法。

博曼測量軟件采用Emp和FP鍍層厚度演算法

XRF儀器在金屬表面處理/終表面處理中的作用

XRF鍍層測厚是10億美元市場規(guī)模的表面處理行業(yè)的需求。它同樣是一個很好的科技幫手幫助一些利潤微薄的電鍍企業(yè)在低成本實現(xiàn)高品質的鍍層。并且知道他們正在避免產品不合規(guī)的風險和原料浪費造成的成本損失。

博曼XRF分析儀為各種元素和合金提供非接觸鍍層厚度測量，測量范圍可從十三號鋁元素到九十二號鈾元素。我們的儀器適用于小部件或復雜形狀的超薄的多層合金鍍層的行業(yè)標準。

元素分析

在使用純金屬或合金層來增強產品品質和性能的同時，確定樣品元素成分和確定鍍層厚度一樣很重要。

元素分析的應用

• 涂層和合金的材料分析
• 產品查驗
• 制造過程控制
• 污染物的痕量分析
• 材料研究與開發(fā)
• 電子元件和連接器的電鍍成分和厚度分析
• 線路板鍍層分析，例如鎳層和小于0.1μm的金鈀合金層
• 分析進口黃金（和其他貴金屬），珠寶和手表

博曼XRF系統(tǒng)可分析元素成分，同時可測量鍍層厚度，簡化了品質管控的流程。

溶液分析

電鍍槽組件的管理，包括主要組件，痕量組件以及添加劑。這些因素的管控關乎產品品質與成本。

博曼XRF系統(tǒng)提供高精度，非破壞性，快速和用戶友好的方法來分析鍍液的金屬含量。