雷達物位計

一、雷達物位計測量原理
通過天線系列發射并接收能量很低的極短的微波脈沖。雷達波以光速運行，精確測量雷達波的運行時間并通過電子部件轉換成物位信號，可以確保在極短時間內穩定和精確測量出物料或液體位置。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號，物位儀表可以空倉調試。
二、雷達物位計特點
1、不受溫度和壓力的影響
微波的運行幾乎不受環境溫度和壓力的影響，即使在高溫高壓的惡劣環境下進行測量也沒有問題。
2、不受被測介質特性的影響
更換被測介質的成分或更換整個介質，不會影響雷達物位計測量結果且不需要重新調試。
3、安裝維護簡便
由于雷達物位計采用非接觸式測量，所以安裝和維護都非常簡便。
三、雷達物位計主要性能參數
1、適用范圍：普通環境下的固體物料測量
2、測量距離：15米
3、測量精度：±15毫米
4、工作頻率：K波段
5、工作環境溫度：-40～80℃
6、工作環境壓力：-1～2bar (-100～200 kPa)