WKL-702 顆粒圖像分析儀 返回列表頁

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖。

技術參數：

儀器型號：WKL-702

測量范圍：0.1～3000（微米）

總放大倍數：8000倍

分辨率：0.1微米/像素

重復性：誤差≤±1％

自動分割速度：≤1秒

數字攝像機(CCD)：500萬像素

數據儲存：電腦另配

通信接口：USB

操作系統：Windows 98/XP/7/8/10系統均可

電源：AC220V ±10％ 200W

儀器尺寸：270mmX410mmX440mm

儀器凈重：15kg