SGW® X-4B 顯微熔點(diǎn)儀 返回列表頁(yè)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。

SGW® X-4A、SGW® X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

技術(shù)參數(shù)

儀器型號(hào)：SGW® X-4B

測(cè)量范圍：室溫~320 ℃

測(cè)量方法：目視

測(cè)量模式：毛細(xì)管法、熱臺(tái)法

最小示值：0.1℃

重復(fù)性：≤200℃±1℃，＞200℃±2℃

觀察方式：雙目體視顯微鏡

放大鏡倍數(shù)：40×-100×變倍

電源：220V±22V，50Hz±1Hz

儀器尺寸：269×160×435mm

儀器凈重：4kg

熔點(diǎn)儀，顯微熱分析儀易耗品選購(gòu)

毛細(xì)管：90mm適用于WRS系列儀器、120mm適用于WRR系列儀器

標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：萘、乙二酸、蒽醌等

載玻片/蓋波片：適用儀器WRX-2S、SGW® X-4系列

服務(wù)：提供儀器校驗(yàn)、3Q認(rèn)證