Evolution™ 220 紫外可見分光光度計 返回列表頁

2011 年度 R&D 100 大獎獲得者。采用 Thermo Scientific™ Evolution 201 和 220 紫外-可見光分光光度計進行分析，擴展了實驗室的應用范圍，并提高了生產率。新一代 Thermo Scientific™ INSIGHT™ 軟件可同時應用于平板電腦和計算機控件，確保您的儀器緊跟技術潮流，并隨時應對新的樣品挑戰。我們的自定義用戶環境 (CUE) 軟件允許您自定義邏輯測量步驟和輸出環境，從而將您的常規測量提升到新的水平。

無論常規分析還是研究分析，該系列儀器真正的創新之處在于增強了實用性和性能 - 卻不會增加復雜性。簡單的軟件、的儀器以及廣泛的附件選擇讓 Evolution 201 和 220 系統能按您希望的方式進行實驗并獲得您需要的結果。

INSIGHT 軟件——化繁為簡

◆ 個性化的主屏幕，易于導航，增強了便利性

◆ 工作手冊工具可以節省時間，確保實驗結果的準確性

◆ CUE 腳本允許創建定制的界面和簡化的工作流程

優化的工程學設計可提供更佳性能

◆ 1nm 光譜帶寬的雙光束幾何元件實現各種精密測量

◆ 光學匯聚 (AFBG) 技術極大程度上優化了微量池、固體樣品和光纖探針的性能

◆ 氙閃光燈無需預熱時間，可進行瞬時測量

◆ 采用電子觸發，為快速混合動力學測定提供的準確度

◆ 精密的單色器驅動設計，提供快速掃描數據采集和波長準確度

指尖輕點，輕松完成

◆ 利用彩色觸摸屏和內置計算機進行儀器控制

◆ 采用集成式鍵盤與 INSIGHT 軟件通訊

◆ 靈活便利的本機或計算機配置選項

滿足多種采樣需求的附件

◆ 多種附件選擇，包括各種溫度控制選件、樣品轉換器、吸樣器和固體采樣裝置，幫助您完成分析任務

◆ 選擇 Peltier 單個池架或智能 Peltier 8 聯池系統來進行溫度控制，并對樣品實施 0°到 100 °C 的監控

◆ 易于使用的軟件集成化幫助您控制整個測定過程

保障系統性能

◆ 賽默飛紫外校驗包支持各種系統認證和驗證工作

◆ 文件記錄功能確保您的系統符合 FDA、GxP、ISO 9001:2000 和 ISPE 2001 規定和條例的要求

◆ 汞燈附件可用于進行儀器校準

◆ 賽默飛 INSIGHT security 軟件能夠提供完整的工具以符合 21 CFR 第 11 部分要求

規格參數

基線平坦度：±0.0010 A，200-800 nm，1.0 nm SBW，平滑

描述： Evolution 220 UV-Vis Spectrophotometer, Computer Control, includes Euro/US/UK power cords

檢測器類型：雙硅光電二極管

顯示器：無

尺寸（長 x 寬 x 高）：62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in)

光譜帶寬：可變：1.0nm；2.0nm；優化的 AFBG 微量樣品池；優化的 AFBG 光纖；優化的 AFBG 材料

類型：紫外-可見光分光光度計，計算機控制，隨附歐洲/美國/英國規格電源電纜

Wavelength Range：190 至 1100 nm

漂移：<0.0005 A/h，500 nm，1.0 nm SBW，1 h 預熱

電氣要求：100-240 V 50-60 Hz，自動選擇， 150 W

包括：EU/US/UK power cords

鍵盤：密封膜

燈壽命：7 years typical

噪聲：0 A：<0.00015 A；1 A：<0.00025 A；2 A：<0.00080A；260 nm，1nm SBW，RMS

光學設計：雙光束（指示樣品和參考比色皿位置）；應用聚焦光束幾何結構； Czerny-Turner 單色器

藥典合規性測試：（保證性能規格）

分辨率（甲苯-正己烷）： ≥1.8A

光度準確度 (60 mg/L K2Cr2O7)： ±0.010A

雜散光： ≤1% T @ 198 nm：KCI； ≤ - 0.05 %AT @ 220 nm：Nal，Kl

波長準確性： ±0.5 nm，541.9、 546.1 nm Hg 發射線， ±0.8 nm 全量程

波長重復性： ≤0.05 nm，546.1 nm Hg 發射線重復掃描

光度精度：1 A： ±0.006 A, 2 A： ±0.010 A, 在 440 nm 處測量，使用已校準中性濾光片

光度顯示：-0.3 至 4.0A

光度范圍：>3.5 A

透射比重復性：±0.0002 A

處理器：Microsoft Windows 7、Windows 8

掃描縱坐標模式：吸光度, % 透射率, % 折射率,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*因子,強度

掃描速度：< 1-6000 nm/min，可變

質保期：3 Years

波長精度：±0.5 nm （541.9、546.1 nm 汞線），±0.8 nm（190 - 1100 nm 全范圍）

波長數據間隔：10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1nm

波長重復性：≤0.05nm （546.11 nm 汞譜線，10 次測量的 SD）

重量（英制）：32 lb

重量（公制）：14.4 kg

Unit Size：Each