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高溫高濕試驗箱用于半導體電子元器件行業，用于考核元器件在在高溫，高濕的條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價產品外觀的寢蝕。常用測試條件：Ta = 85℃ 85%RH
特點
測試空間容積為80L,120L,225L，408L,504L,800L，1000L，非標定制等
高效的控制和監控系統，自帶集成的測試數據記錄功能。
帶菜單引導界面的彩色控制面板。
USB接口以太網接口。
具有獨立溫度測量（Tmin/Tax)功能的試樣保護裝置。
高速空氣循環速率可確保試驗區內的溫度和濕度分布均勻。
即使在高溫環境下也能提供可靠的測試數據值。
低噪聲級。
高分辨的彩色觸摸屏具有圖像顯示功能，便于處理環境模擬程序
能耗最小
設計和技術參數：
型號 LS-THT-80 LS-THT-120 LS-THT-225 LS-THT-408 LS-THT-504 LS-THT-800 LS-THT-1000 工作尺寸(CM) 40×50×40 45×60×45 50×75×60 60×85×80 70×90×80 100×100×80 100×100×100 外部尺寸（CM) 100×134×72 107×144×77 120×164×92 122×169×112 140×189×136 162×184×112 162×184×132 溫度范圍 RT+10~100℃以下 濕度范圍 65%~98%RH 升溫平均速率 3-5℃/min 溫度波動度 ±0.5℃ 溫度均勻度 ±1.0℃ 溫度濕度偏差 ±1.0℃ ； ±3.0%RH 內部材質 304SUS不銹鋼 外部材質 冷軋板噴塑或304SUS不銹鋼 電源 AC:220V/380V 50/60Hz
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