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用于半導體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術
一、設備名稱：精密高溫試驗箱型號：LS-RUL-60二、技術指標及驗收標準1.性能（為空載時,其室溫在25℃）1.1溫度范圍：RT+10~200℃(250℃
精密型高溫烤箱：主要應于高精密儀器儀表老化試驗用
一、設備名稱：精密高溫試驗箱型號：LS-RUL-45二、技術指標及驗收標準1.性能（為空載時,其室溫在25℃）1.1溫度范圍：RT+10~200℃(250℃
技術參數：一、設備名稱：高溫試驗箱型號：LS-RUL-100二、技術指標及驗收標準1
產品主要指標名稱：精密高溫試驗箱型號：LS-RUL-80適用范圍：該產品適用于功率模塊
用于高質量產品要求的可靠加熱技術
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