昆山勝澤光電科技有限公司
半導體小光斑顯微膜厚測量儀介紹頁:型號:A3-SRM-100
半導體小光斑顯微膜厚測量儀介紹頁:
型號:A3-SRM-100; 波長范圍:400-900nm, 測量范圍:15nm-100um, 光斑大小5-40um
下載文檔:
A3-SRM-100小光斑顯微膜厚測量儀
您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
儀表網 設計制作,未經允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產品
請簡單描述您的需求
請選擇省份