極片表面電阻測量系統 返回列表頁

極片表面電阻測量系統

ZKJPD-I

產品概述：

極片表面電阻測量系統-電池極片中，影響電導率的主要因素包括箔基材與涂層的結合界面情況，導電劑分布狀態，顆粒之間的接觸狀態等；通過電池極片的電導率能夠判斷極片電阻中微觀結構的均勻性，預測電池的性能。同時鋰離子電池極片電阻是影響電池內阻、電壓以及自動放電率的重要因素。

目前測試極片電阻的方法有四探針法和兩探針法，四探針法和兩探針法都無法對被測物體表面施加壓力，且極片的表面涂層由顆粒組成，與探針的接觸面積小，只測量了電阻兩端的電壓值和電流值，故探針無法全面表征極片電阻。

無論是四探針法還是兩探針法都只能表征表面薄層的電阻（即只能用于測量被測物表面的薄層電阻），對于較厚且存在成分梯度電池涂層無法全面表征極片的電阻值，另外，它也不能測試真實極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測試法僅測量非導電基材極片，且與測試極片接觸點面積小，極片顆粒大，數據無參考意義。

本公司所研發的可以對電池極片施加可變壓力，可對壓力值、極片電阻值和厚度變化值進行即時測量，并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關系

通過對極片施加不同壓強，可以使極片表面的涂層顆粒產生不同程度的形變，從而改變極片的導電性能。通過測量數據可以分析不同壓強下極片的阻值特性，從而對改良極片提供數據參考。

本儀器測試極片電阻阻值時，電流從極片電阻的端面穿過，使得對極片電阻電阻測量更加精確。