上海全耀儀器設備有限公司
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Map薄膜厚度測繪儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
Map薄膜厚度測繪儀用于測量厚度分布，評價薄膜厚度的均一性，可與所有MProble系列的薄膜測厚儀聯用。
厚度測繪臺包含：
1. XY電動載物臺，行程：150mm/200mm/300mm
2. 19英寸鋁制底座
3. 探頭適配器
4. 載物臺控制器
5. 厚度拼圖軟件
| 可選硬件模塊： | |
| 150XYM | 6英寸（150X150mm）行程電動載物臺 |
| 200XYM | 8英寸（200X200mm）行程電動載物臺 |
| 300XYM | 12英寸（300X300mm）行程電動載物臺 |
| VAC | 真空吸附器 |
| TR | 透射率測量模塊 |
電動載物臺參數：
| 位移精度 | 小于2um |
| 分辨率 | 小于0.5um |
| 驅動器 | 步進馬達 |
| 通訊 | USB接口 |
| 尺寸 | 19X19x10英寸(6和8英寸行程) |
| 重量 | 12kg |
薄膜厚度分布圖（厚度以顏色標示）：
厚度測繪軟件：
我們樂意為您進行免費樣品測量，歡迎。
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