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當前位置：深圳市世紀天源儀器有限公司>>產品展示>>日本J-RAS>>導通電阻試驗裝置（RTM）
導通電阻試驗裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
導通電阻試驗裝置 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
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