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太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測(cè)量?jī)x 返回列表頁

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)SMX-BEN

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地上海市

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聯(lián)系方式：丁成峰查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2017-07-23 06:39:30瀏覽次數(shù)：1283次

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美國(guó)solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品特色∶

1. *能提供NIST等級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)樣品，與美國(guó)NREL共同合作。

2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm

3. 可直接儲(chǔ)存及建立各種鍍層的Protocol參數(shù)，可設(shè)定多點(diǎn)分析，以確定制程品
質(zhì)。

4. 針對(duì)CIGS各種鍍層材質(zhì)的濾光片，共5種

5. X-Y-Z三軸自動(dòng)定位，軸承zui長(zhǎng)距離為8”X8”X6”，并有自動(dòng)聚焦弁?/div>

6. 具有表面相對(duì)等距自動(dòng)調(diào)整系統(tǒng)

7. 采用自然光，LED白光，無色差

8. 采用高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測(cè)器

9. 具有防撞安全裝置

10. 具有操作時(shí)輻射安全裝置

11. 可將實(shí)驗(yàn)室建立的數(shù)據(jù)直接復(fù)制至線上檢測(cè)機(jī)臺(tái)上。

基本規(guī)格：

X射線發(fā)生部	電壓	zui大50kV，多段電壓切換
	電流	4-1000μA，可做自動(dòng)調(diào)整設(shè)定
	準(zhǔn)直器	共五個(gè)
	偵測(cè)器	Pin or Si
檢測(cè)器	冷卻方式	電子冷卻
檢測(cè)器	五種濾波器自動(dòng)切換
電源	AC110~240V, 50/60 Hz

應(yīng)用領(lǐng)域：

鍍層厚度分析

（1）分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時(shí)測(cè)量。
（2）分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時(shí)測(cè)量。
（3）三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。

其他型號(hào)：

薄膜太陽能檢測(cè)設(shè)備：
應(yīng)用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。

● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:*能提供NIST標(biāo)準(zhǔn)樣品，快速（60秒內(nèi)）非破壞檢測(cè)。
● 生產(chǎn)製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設(shè)備商turn-key使用，直接OEM與生產(chǎn)製程端整合。
● 即時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備（In-Situ） SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內(nèi)檢測(cè)，可耐高溫至 300°C。
● 產(chǎn)線自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)（In-Line） SMX-ILH:適用於各種製程產(chǎn)線上不同檢測(cè)點(diǎn)上，可依現(xiàn)場(chǎng)Layout 做不同方式進(jìn)樣。

（）

點(diǎn)圖進(jìn)入相冊(cè)

桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN（）

點(diǎn)圖進(jìn)入相冊(cè)

桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN（）

點(diǎn)圖進(jìn)入相冊(cè)

SMX-FPV（）

點(diǎn)圖進(jìn)入相冊(cè)

生產(chǎn)製程專用模組 SMX-FPV（）

點(diǎn)圖進(jìn)入相冊(cè)

即時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備（In-Situ） SMX-ISI 、產(chǎn)線自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)（In-Line） SMX-ILH（）