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當前位置：北京西潤斯儀器儀表有限公司>> XRS-DTC0504磁致伸縮實驗儀
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業 | 其他 | 測試最小分辨率達到 | 0.32μm |
磁致伸縮實驗儀 實驗磁致伸縮實驗儀 型號：XRS-DTC0504
磁致伸縮效應于19世紀被英國物理學家詹姆斯.焦耳發現。他觀察到一類鐵磁材料，如：鐵，在磁場中會改變長度。焦耳事實上觀察到的是具有負向磁致伸縮效應的材料，但從那時起具有正向磁致伸縮效應的材料也被發現了。
主要實驗內容：
1、 了解邁克爾遜干涉儀的基本原理；
2、 測量不同材料的磁致伸縮特性。
主要技術特點：
1、 采用干涉法測量磁致伸縮，測試最小分辨率達到0.32μm；
2、 平臺式設計，產品直觀、大氣。
主要技術參數：
1、 一體式He-Ne激光器：功率約1 mW，波長632.8 nm，開關電源設計，激光輸出穩定度高；
2、 分束鏡1只；
3、 二維可調反射鏡架1只；
4、 待測樣品用反射鏡1只；
5、 擴束鏡1只；
6、 毛玻璃觀察屏1只；
7、 恒流源0～5A連續可調；
8、 螺線管1只；9、待測樣品3只。
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