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當前位置：北京西潤斯儀器儀表有限公司>> XRS-uv-340型紫外輻照計
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業 | 其他 | ※示值相對誤差: | ±10% |
紫外輻照計 紫外線強度檢測儀 型號：XRS-uv-340型
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
u主要性能指標
※波長范圍及峰值波長:
uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm
※輻照度測量范圍:
(0.1~199.9×103)μw/cm2
※紫外帶外區雜光:
uv340:小于0.05%
※余弦特性:
符合國家二級光照度標準
※示值相對誤差:
±10%
※響應時間:
1秒
※使用環境:
溫度(0~40)℃;濕度<85%rh
※尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※電源:
9v積層電池(6f22型)一只
紫外輻照計 紫外線強度檢測儀 型號：XRS-uv-340型
該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
u主要性能指標
※波長范圍及峰值波長:
uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm
※輻照度測量范圍:
(0.1~199.9×103)μw/cm2
※紫外帶外區雜光:
uv340:小于0.05%
※余弦特性:
符合國家二級光照度標準
※示值相對誤差:
±10%
※響應時間:
1秒
※使用環境:
溫度(0~40)℃;濕度<85%rh
※尺寸和重量:
180mm×80mm×36mm;0.2kg
※電源:
9v積層電池(6f22型)一只
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