WGL-8晶體電光調制實驗儀由電場所引起的晶體折射率的變化，稱為電光效應．通過利用典型的LiNbO3晶體橫向電光效應原理的激光振幅調制器的使用，掌握晶體電光調制...

WGL-3 脈沖調Q Nd：YAG倍頻激光器實驗裝置該實驗系統讓學生通過自己動手裝調激光器，掌握激光器的基本結構、主要參數、輸出特性、調整方法、以及調Q、選模、...

WGL-2 半導體泵浦激光原理實驗裝置適用于大學近代物理教學中非線性光學實驗，本實驗以808nm半導體泵浦Nd：YVO4激光器為研究對象，讓學生自己動手，調整激...

WGL-6 氦氖激光器模式分析實驗裝置在激光器的生產與應用中，我們通常需要先知道激光器的模式狀況，如精密測量、全息技術等工作需要基橫模輸出的激光器，而激光器穩頻...

HNL-55700多束光纖激光源采用550mm激光管和進口高傳輸性光纖，通過精密光學分束機構分至七束光纖，每束光纖長度為4米，多為七臺邁氏干涉儀提供擴束光源。

WGL-4 氦氖激光器系列實驗儀器介紹通過氦氖激光器的裝調，改變諧振腔的長度，觀察激光模式的變化，來培養學生實驗的動手能力。使用共焦球面掃描干涉儀，讓學生較直觀...

WGL-5 半導體激光器實驗系列儀器介紹通過測量半導體激光器的功率，電壓和電流，讓學生了解半導體激光器在連續輸出下的工作特性。用WGD-6光學多道分析器觀測，半...

SGD-2 單光子計數實驗系統該實驗系統，由單光子計數器，半導體制冷系統，外光路光學系統，光功率指示儀，工作軟件等組成。系統采用了脈沖高度甄別計數和數字計數技術...

XGS-1 電子散斑干涉實驗系統電子散斑干涉（ESPI）實驗系統借助于粗糙表面信息的攜帶者——散斑來研究物體離面形變，是計算機圖像處理技術、激光技術以及全息干涉...

XGS-2 激光散斑照相實驗裝置利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變，距離，速度測試，物體內在缺陷和振動分析是散斑效應有前途的...

XGS-3 電子及激光散斑實驗系統本實驗包括激光散斑照相和電子散斑干涉兩部分。利用二次曝光散斑圖進行物體表面面內位移場的測試，以及由此引伸出來的應變、應力場測試...