美能達CS-2000A分光輻射亮度計

時間：2021/5/11閱讀：688

美能達CS-2000A分光輻射亮度計產品介紹

測量低亮度的能力達到高水平

作為一款色彩分光輻射亮度計

?100,000 : 1的對比度測量現在已成為可能！

當測量峰值達300 cd/m2

隨著高清電視時代的全面開始，為了更好地還原明銳亮麗、高分辨率的圖像，一些更高質量的支持全高清的顯示設備的發展也日益加速。目前先進的技術可達到亮度層次100,000:1的對比度，畫面會給您更真實的感受。由于需要有儀器能夠測量到更低的亮度，因此在重現一些“比黑色更黑的”圖像時，技術上遇到了瓶頸。

另外，一些其他類型的發光元件發展迅速，如有機電致發光（Organic EL）與傳統的LCD和PDP顯示一樣，都需要更高精度的光譜輻射曲線分析。CS-2000就是一款具有以上測量功能的分光輻射亮度計，它的低亮度測量達到了高水平，低達0.003 cd/m2，高測量對比度可達100,000:1。

測量實例：測量一塊研發階段時的有機電致發光（Organic EL）平板

在低亮度為0.003 cd/m2時，儀器也能保持高精度測量

柯尼卡美能達將先進的光學設計技術與信號處理技術充分結合，為在低亮度0.003 cd/m2下色度和亮度測量的高精度提供了保障。

低亮度測量：從0.003 cd/m2起
測量精度：±2%（亮度）

在低亮度時也能保證快速測量

儀器的*設計充分消除了機械及電路噪聲，使CS-2000在低亮度時也能進行重復性很好的迅速測量。

1 cd/m2時的測量時間：約5秒（快速模式），柯尼卡美能達以前的型號CS-1000：約123秒

低偏振誤差

由于使用反射型衍射光柵引起的偏振誤差被減小到只有2%（測量角度：1°）。這使那些使用偏振片的顯示設備如LCD的測量數據的穩定性得到了保障。

僅5nm的半波寬

儀器僅5nm的半波寬，滿足了對于色度測量的要求（JIS Z 8724-1997，CIE 122-1996），保證了在整個可見光波長范圍內色度的精確測量。

可選擇的測量角度，可測量非常小的面積

CS-2000可根據您不同的應用對象，選擇不同的光學測量角度。

測量角度選擇：1°，0.2°，0.1°
小測量面積：Ø0.1 mm（使用近攝鏡時）

實用的設計

1、儀器的操作溫度范圍是5℃～35℃，與實際工作環境相近，保證儀器操作時的可靠性。

2、儀器僅僅需要在開機后預熱30秒，即可進行正常測量。（測量角度：1°；目標亮度：5 cd/m2以上；23℃時）

即使是有周期性發光特性的光源，也可得到穩定的測量數據

1、內同步測量：通過輸入同步頻率進行測量

2、外同步測量：通過外接輸入垂直同步信號進行測量

3、多重積分模式測量：減少測量非同步時采集信號的變化或測量那些發光特性周期不規則的光源

簡潔的操作面板和彩色LCD顯示屏使得操作更簡便

彩色LCD顯示屏和操作面板設置在儀器背面，簡潔的按鈕排列使您可以更直觀地調用想要的功能。

CS-2000特點

可選擇合適的測量角度，以滿足不同的被測對象。

1°測量角適用于：傳統的測量對象如中、大尺寸的顯示器。

*LCD，PDP或EL平板顯示

*移動dian話或者數碼相機的LCD面板

*各類航空用雷達或儀器設備的顯示面板

*戶外大屏幕顯示設備

0.2°測量角適用于：小面積光源如LEDs

*車載音響系統

*汽車顯示面板

*熒光燈、背光燈管等一些光源

0.1°測量角適用于：極小的發光源或遠距離光源

*PDP或LCD的像素點

*冷陰極管

*汽車剎車燈

*交通信號燈

測量小面積時使用的近攝鏡（可選配件）

儀器配合可選的近攝鏡一起使用，可以測量的小面積為Φ0.1mm，不僅可以測量常規尺寸的顯示設備，也可以測量一些小面積的光源。

測量距離和測量面積

測量距離（單位：mm）		測量角度
測量距離（單位：mm）		1°	0.2°	0.1°
當使用近攝鏡時	55.0	φ1.00	φ0.20	φ0.10
當使用近攝鏡時	70.9	φ1.39	φ0.28	φ0.14
350		φ5.00	φ1.00	φ0.50
500		φ7.78	φ1.56	φ0.78
1,000		φ16.66	φ3.33	φ1.67
2,000		φ34.18	φ6.84	φ3.42

*測量距離是從物鏡或近攝鏡金屬部分末端算起。

重復性對比實驗

1、在目標亮度為0.1 cd/m2時，與柯尼卡美能達以前的型號CS-1000做比較

2、y軸代表了：假設CS-2000測量的平均值為1時，CS-1000測量值的對數

亮度(Lv)

色度(x)

色度(y)

儀器通過在設計上充分消除了機械及電路噪聲，達到了更好的重復性。

被測亮度與測量時間（單位：秒）

亮度(cd/m2)	一般模式	快速模式
0.003	243	35
0.01	243	35
0.1	155	27
1	19	5
10	4	4
300	3.7	3.7

測量對象：標準光源A

*所有的時間僅代表接近值。

測量實例

PDP

LCD

Organic EL

技術解析

CS-2000的核心，光學傳感器，通過精確的分析設計，消除了其成分中的熱量對測量數據的疊加影響。

傳感模組的
熱分析圖

美能達CS-2000A分光輻射亮度計規格

型號	CS-2000A
波長范圍	380 ～ 780 nm
波長分辨率	0.9 nm/pixel
顯示波長寬度	1.0 nm
波長精度	±0.3 nm（校準波長：435.8 nm，546.1 nm，643.8 nm，Hg-Cd燈）
光譜波寬	5 nm以下（半波寬）
測量角度（可選）	1°	0.2°	0.1°
測量亮度范圍（標準光源A）	0.0005~5,000cd/m2	0.0125~125,000cd/m2	0.05~500,000cd/m2
最小測量區域	Φ5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ1 mm）	Φ1 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.2 mm）	Φ0.5 mm（當使用近攝鏡頭時為Φ0.1 mm）
最小測量距離	350 mm（當使用近攝鏡頭時為55 mm）
最小光譜輻射顯示	1.0×10-9 W/sr, m2, nm
精度：亮度（標準光源A）*1	±2%
精度：色度（標準光源A）*1	x : ±0.0015 (0.05 cd/m2 以上) y : ±0.001 (0.05 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.001 ~ 0.05 cd/m2)	x : ±0.0015 (1.25 cd/m2 以上) y : ±0.001 (1.25 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.025 ~ 1.25 cd/m2)	x : ±0.0015 (5 cd/m2 以上) y : ±0.001 (5 cd/m2以上) x,y : ±0.002 (0.1 ~ 5 cd/m2)
重復性：亮度（2σ）（標準光源A）*2	0.15% (0.05 cd/m2 以上) 0.25% (0.003 ~ 0.05 cd/m2) 0.7% (0.001 ~ 0.003 cd/m2) 1.5% (0.0005 ~ 0.001 cd/m2)	0.15% (1.25 cd/m2 以上) 0.25% (0.075 ~ 1.25 cd/m2) 0.7% (0.025 ~ 0.075 cd/m2) 1.5% (0.0125 ~ 0.025 cd/m2)	0.15% (5 cd/m2以上) 0.25% (0.3 ~ 5 cd/m2) 0.7% (0.1 ~ 0.3 cd/m2) 1.5% (0.05 ~ 0.1 cd/m2)
重復性：色度（2σ）（標準光源A）*2	x,y: 0.0004 (0.2 cd/m2以上) x,y: 0.0006 (0.1 ~ 0.2 cd/m2) x: 0.001 y:0.0015 (0.003 ~ 0.1 cd/m2) x: 0.003 y:0.0035 (0.001 ~ 0.003 cd/m2)	x,y: 0.0004 (5 cd/m2 以上) x,y: 0.0006 (2.5 ~ 5 cd/m2) x: 0.001 y: 0.0015 (0.075 ~ 2.5 cd/m2) x: 0.003 y: 0.0035 (0.025 ~ 0.075 cd/m2)	x,y : 0.0004 (20 cd/m2 以上) x,y : 0.0006 (10 ~ 20 cd/m2) x: 0.001 y: 0.0015 (0.3 ~ 10 cd/m2) x: 0.003 y: 0.0035 (0.1 ~ 0.3 cd/m2)
偏振誤差	1°：2%以下（400 ～ 780 nm）；0.1°和0.2°：3%以下（400 ～ 780 nm）
積分時間	快速：0.005～16 秒；普通：0.005～120 秒
測量時間	最小1秒（手動模式）至最大243秒（普通模式）
色空間模式	Lv x y，Lv u' v'，Lv TΔuv，XYZ，光譜曲線，特征波長，激發純度，暗視覺亮度（使用CS-S10w專業軟件）
接口	USB 1.1
操作溫度/ 濕度范圍	5～35℃，相對濕度80%以下，無凝露
存儲溫度 /濕度范圍	0～30℃，相對濕度80%以下，無凝露
電源	電源適配器（100-240～，50/60 Hz）
功率	約20 W
尺寸	158（寬） × 200（高） × 300（長） mm （主機），Φ70 × 95mm（鏡頭）
重量	6.2kg

數據處理軟件

CS-S10w 專業版（標準配件）

使用該軟件，CS-2000A可通過計算機控制進行測量，并將數據以多種圖表或列表形式顯示。也可以將測量數據復制粘貼或者導出到其他軟件工作表中。CS-S10w提供了大量的數據管理、分析、評估方式，可幫助您更簡便、高效地進行研發或者品質控制工作。

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