詳細(xì)摘要: PCB-BiasHAST測(cè)試偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯 片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...
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詳細(xì)摘要: PCB-BiasHAST測(cè)試偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯 片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-07-17 在線留言詳細(xì)摘要: CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試,CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場(chǎng)作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-07-17 在線留言詳細(xì)摘要: zonglen HAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯 片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽...
產(chǎn)品型號(hào):zonglen所在地:成都市更新時(shí)間:2025-07-17 在線留言詳細(xì)摘要: 絕緣電阻劣化(離子遷移CAF) 評(píng)估系統(tǒng),評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1~10...
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