KOSAKA 臺(tái)階儀 | 薄膜測(cè)厚儀 | 微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)
ET4000系列 面議質(zhì)朋儀器貿(mào)易（上海）有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)ET4000系列
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地
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更新時(shí)間：2021-10-14 17:07:26瀏覽次數(shù)：402次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)● 高精度．安定性．機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤(pán)等的微細(xì)形狀、段差、粗度測(cè)定的機(jī)型?！?是多機(jī)能的全自動(dòng)微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)，針對(duì)用途及樣品尺寸有多種機(jī)型可供選擇?！?ET4000A/ ET4000AK一可實(shí)現(xiàn)2D/3D表面形狀測(cè)量。● ET4000M一高性能的泛用微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)?！?ET4000L一......
臺(tái)階儀/膜厚儀ET4000系列產(chǎn)品參數(shù)
| 試片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
|---|---|
| 重現(xiàn)性 | 1σ 0.5nm以內(nèi) |
| 測(cè)定范圍 | Z:100um X:100～305mm (Y移動(dòng)量:150~400mm) |
| 分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
| 測(cè)定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽(yáng)能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階儀測(cè)量薄膜厚度,臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面
更多進(jìn)口臺(tái)階儀測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品功能和報(bào)價(jià)問(wèn)題，您可在線咨詢或給我們來(lái)電： ，質(zhì)朋儀器貿(mào)易上海有限公司將時(shí)間回復(fù)您。
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