詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
產(chǎn)品型號(hào)：BN-ZQ所在地：東莞市更新時(shí)間：2021-04-07 在線留言
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詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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詳細(xì)摘要： 適用於各半導(dǎo)體，電子連接器, 被動(dòng)元件及各具沾錫之電子産品零件接腳氧化試驗(yàn)金屬接腳粘錫性試驗(yàn)前加速老化試驗(yàn),符合安規(guī)MTL-STP-208F,202等標(biāo)準(zhǔn)。
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詳細(xì)摘要： 該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件...
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