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全自動化&高集成度&可視化光斑操作簡單，測試快速，為一般操作工人設計一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SE——新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質量控制理想的解決方案。
操作簡單，測試快速，為一般操作工人設計 一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SE——新型的全自動薄膜測量分析工具。 采用工業化設計，操作簡單，可在幾秒鐘內完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質量控制理想的解決方案。 液晶調制技術，無機械轉動部件，重復性，信噪比高 技術成像系技術，所有樣品均可成像，對于透明樣品,自動去除樣品的背反射信號,使得數據分析更簡單. 反射式微光斑，覆蓋全譜段，利于非均勻樣品圖案化樣品測試 全自動集成度高，安裝維護簡便 一鍵式操作軟件，快速簡單 自動MAPPING掃描，分析樣品鍍膜均勻性 光譜范圍：450-1000 nm 多種微光斑自動選擇 光斑可視技術，可觀測任何樣品表面 自動樣品臺尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自動調節; Z軸高度>35mm 70度角入射 CCD探測器 液晶相調制 16個穆勒矩陣參數 1秒內完成全譜測量 MyAuto View可視光斑技術 微光斑，四種可選 一鍵式操作，一鍵出報告 AutoSE-一鍵式全自動快速橢偏儀
全自動化&高集成度&可視化光斑
主要特點：
技術參數：
高集成度全自動式設計，操作簡便，安裝快速，自動校驗故障
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