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Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀-膜厚儀 結合顯微鏡的薄膜測量系統 Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統 Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統 Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速
Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統 Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統 Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。 當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，F40是選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得精準的厚度及光學參數值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F40就可以和市面上多數的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。 * 取決于材料 1.使用5X物鏡參考 2.是基于連續20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2 薄膜樣品連續測量100次所得厚度值的標準偏差的平均值 3.是基于連續20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2薄膜樣品連續測量100次所得厚度值的2倍標準偏差的平均值 桌面式薄膜厚度測量的 24小時電話，和在線支持 所有系統皆使用直觀的標準分析軟件 嵌入式在線診斷方式 免費離線分析軟件 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效地存儲，重現與繪制測試結果 半導體制造 生物醫學原件 ? 光刻膠 ? 聚合物/聚對二甲苯 ? 氧化物/氮化物 ? 生物膜/球囊壁厚度 ? 硅或其他半導體膜層 ? 植入藥物涂層 微電子 液晶顯示器 ? 光刻膠 ? 盒厚 ? 硅膜 ? 聚酰亞胺 ? 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 ? 導電透明膜Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀
結合顯微鏡的薄膜測量系統
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附加特性
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